[发明专利]集成电路测试信息化管理系统中的资源管理系统有效

专利信息
申请号: 201811076376.5 申请日: 2018-09-14
公开(公告)号: CN109408047B 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 罗斌;余琨;马健;季海英;王静;王锦 申请(专利权)人: 上海华岭集成电路技术股份有限公司
主分类号: G06F8/30 分类号: G06F8/30
代理公司: 上海海贝律师事务所 31301 代理人: 范海燕
地址: 201203 上海市浦东新区中国(*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 测试 信息化 管理 系统 中的 资源管理
【说明书】:

发明公开了一种集成电路测试信息化管理系统中的资源管理系统,包括以下功能模块:建立测试任务模型模块,产品信息登记及管理模块,产品测试设备信息模块,测试任务状态监控模块,测试生产管理模块,DiagUid校验及管理模块,MAPEDIT信息管理模块;本发明提供的集成电路测试信息化管理系统中的资源管理系统子系统,是集成从测试集成电路产品入库到出库一整套信息登记和信息管理,功能完备、实用简单、过程可控,可通过安全的在线远程进行访问控制。

技术领域

本发明涉及一种,尤其涉及一种集成电路测试信息化管理系统中的资 源管理系统。

背景技术

当前,我国集成电路产业正面临发展的重要战略机遇期、创新期和攻 坚期,一方面,全球市场格局加快调整,投资规模迅速攀升,市场份额加 速向优势企业集中;另一方面,移动智能终端及芯片呈爆发式增长,互联 网、物联网、大数据等新业态快速发展,集成电路技术演进出现新趋势。

最近几年,大数据一直是个非常热门的话题。当人们津津乐道于互联 网时代海量数据带来如何的机会和价值的时候,而集成电路产业中却忽略 了随时可见的芯片大数据的价值,如集成电路测试数据。当前,集成电路 测试每天生成各种数据超过300G的大数据,每月测试2亿多颗芯片,每 颗芯片测试参数平均约6000项,每颗芯片测试功能矢量平均约10,000,000 条,测试数据还在持续增长中,若构建在线分布式数据部署、集中化信息 处理等在线交互信息处理平台,研发集成电路测试海量数据(每天超过 300G的数据)在线分析处理与离线深度挖掘技术,对集成电路每一环节的 测试结果进行监督和分析,甚至通过一些数据的变化趋势预测问题的所在, 在良率问题爆发出来以前就采取必要的措施,从而减少甚至避免产品质量 的事故,降低芯片生产运营的成本,为国内外集成电路相关企业提供专业、 安全的在线交互信息系统服务,这也是未来集成电路产业发展中海量测试 数据所体现的价值。

国内集成电路产业测试信息化还面临着如下挑战和需求:

(1)物理服务集群系统需求

集成电路产业中随时可见芯片大数据的价值,如PCM工艺数据、验证 数据、晶圆测试数据、QA数据等集成电路数据信息,几乎所有芯片在进入 市场前,都需要经过很多环节严格的测试,而每个环节的都会产生海量信 息数据。因此,国内集成电路企业急需一个具有智能、高效及形成一个庞 大的数据网的物理服务集群系统,兼顾安全预警服务支撑系统、全面安全 保障支撑系统、高效运维管理支撑系统等功能,为上层应用提供高度集成 的数据接口,实现相应虚拟化,为平台上的用户提供应用服务,形成一个 完整的生态圈,为集成电路产业用户提供整套安全可控、智能监控、安全 预警、动态监控的集成电路基础构架平台和服务。

(2)在线信息交互服务系统的需求

集成电路产业链包括集成电路设计、制造、封装、测试以及支撑辅助 上述三个环节的设备和材料等环节,但是每个环节由于自身规模、技术等 限制,不可能负担高额的信息系统成本,所以未来对于在线交互服务这种 成本较低创新服务的需求会出现爆发,布局互联网集成电路数据中心的创 新服务及解决方案,满足集成电路产业链各环节企业按需自助服务的在线 交互信息服务模式将会成为集成电路设计、制造、封装测试等生态系统良性互动发展的支柱。

(3)海量数据挖掘和分析需求

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