[发明专利]纸张厚度的检测方法、装置、存储介质和处理器有效
申请号: | 201811075178.7 | 申请日: | 2018-09-14 |
公开(公告)号: | CN109410172B | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 姜利;宋荣鑫;祁秀梅;咸杰 | 申请(专利权)人: | 威海华菱光电股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G07D11/22 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 赵囡囡;董文倩 |
地址: | 264209 山东省威海*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 纸张 厚度 检测 方法 装置 存储 介质 处理器 | ||
1.一种纸张厚度的检测方法,其特征在于,包括:
获取目标纸张的第一厚度图像;
从所述第一厚度图像中提取出第一厚度特征和第二厚度特征,其中,所述第一厚度特征在所述第一厚度图像中的像素点的数量小于等于第一目标阈值,所述第二厚度特征在所述第一厚度图像中的像素点的数量大于所述第一目标阈值,所述第一厚度特征包括所述目标纸张上的折痕或者随机噪声,所述第二厚度特征包括所述目标纸张的贴附物;
对所述第一厚度特征中的多个像素点的灰度值,进行平均处理,得到第一灰度值;
在所述第一灰度值小于所述第二厚度特征中的多个像素点的第二灰度值的情况下,确定所述目标纸张上与所述第二厚度特征对应的区域的厚度发生了变化。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述第一灰度值小于所述第二厚度特征中的多个像素点的所述第二灰度值的情况下,在确定所述目标纸张上与所述第二厚度特征对应的区域的厚度发生了变化时,所述方法还包括:
确定所述目标纸张上与所述第一厚度特征对应的区域出现了折痕特征或随机噪声。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在确定所述目标纸张上与所述第一厚度特征对应的区域出现了所述折痕特征或所述随机噪声之后,所述方法还包括:
将所述第一厚度特征中的多个像素点的灰度值还原为所述目标纸张的目标灰度值,其中,在将所述第一厚度特征中的多个像素点的灰度值还原为所述目标纸张的目标灰度值之后,所述第一厚度特征对应的区域的厚度未发生变化,且未出现所述折痕特征或所述随机噪声;
获取将所述第一灰度值还原为所述目标灰度值后的所述目标纸张的第二厚度图像,其中,所述第二厚度图像用于指示所述目标纸张上与所述第二厚度特征对应的区域的厚度发生了变化。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过第二目标阈值确定所述第一灰度值小于所述第二灰度值。
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的方法,其特征在于,在对所述第一厚度特征中的多个像素点的灰度值,进行平均处理,得到所述第一灰度值时,所述方法还包括:
对所述第二厚度特征中的多个像素点的灰度值,进行平均处理,得到所述第二灰度值。
6.根据权利要求1至4中任意一项所述的方法,其特征在于,确定所述目标纸张上与所述第二厚度特征对应的区域的厚度发生了变化包括:
确定所述目标纸张上与所述第二厚度特征对应的区域,贴附有使所述目标纸张的厚度发生变化的异物。
7.一种纸张厚度的检测装置,其特征在于,包括:
获取单元,用于获取目标纸张的第一厚度图像;
提取单元,用于从所述第一厚度图像中提取出第一厚度特征和第二厚度特征,其中,所述第一厚度特征在所述第一厚度图像中的像素点的数量小于等于第一目标阈值,所述第二厚度特征在所述第一厚度图像中的像素点的数量大于所述第一目标阈值,所述第一厚度特征包括所述目标纸张上的折痕或者随机噪声,所述第二厚度特征包括所述目标纸张的贴附物;
处理单元,用于对所述第一厚度特征中的多个像素点的灰度值,进行平均处理,得到第一灰度值;
第一确定单元,用于在所述第一灰度值小于所述第二厚度特征中的多个像素点的第二灰度值的情况下,确定所述目标纸张上与所述第二厚度特征对应的区域的厚度发生了变化。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
第二确定单元,用于在所述第一灰度值小于所述第二厚度特征中的多个像素点的所述第二灰度值的情况下,在确定所述目标纸张上与所述第二厚度特征对应的区域的厚度发生了变化时,确定所述目标纸张上与所述第一厚度特征对应的区域出现了折痕特征或随机噪声。
9.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质包括存储的程序,其中,在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求1至6中任意一项所述的纸张厚度的检测方法。
10.一种处理器,其特征在于,所述处理器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行权利要求1至6中任意一项所述的纸张厚度的检测方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于威海华菱光电股份有限公司,未经威海华菱光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811075178.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于雨天图像的目标显著性检测方法
- 下一篇:一种画质检测方法及系统