[发明专利]表征带有夹杂物的材料的方法在审

专利信息
申请号: 201811059995.3 申请日: 2018-09-12
公开(公告)号: CN109507218A 公开(公告)日: 2019-03-22
发明(设计)人: F·沃尔克 申请(专利权)人: 依科视朗国际有限公司
主分类号: G01N23/18 分类号: G01N23/18;G06T7/44
代理公司: 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 代理人: 金辉
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 空气夹杂 粘合剂表面 半导体部件 微电子部件 差异图像 滤波图像 随机组合 条件概率 图像处理 图像区域 原始图像 粘合剂层 焊缝 不可用 焊接点 夹杂物 粘合点 像素 关联 图像 概率 分析
【权利要求书】:

1.用于基于体积的图像(1)确定封闭体积中的夹杂物(51)的方法,其中,对于取决于像素的第一特征的阈值的相应像素,做出关于在像素中是否存在空气夹杂物的是/否声明,其中第一特征涉及得自图像的原件(1)和图像的滤波图像的差异图像(3),

其特征在于,通过中值滤波器形成滤波图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于差异图像(3)中的噪声自动确定阈值。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在基于存在针对相应像素建立的夹杂物(51)的概率考虑所有特征之后,仅在最后做出是/否声明。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,定义像素的第二特征,并分别计算第一和第二特征的概率。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,第一和第二特征随机地相互组合,并且第一和第二特征的概率彼此关联。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,实现通过关联获得的结果的平滑化,其中,为了确定最大概率,在检查的像素和相邻像素之间交换信息。

7.根据前述权利要求4-6中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法至少通过以下参数之一来设置:

-中值滤波器的掩模尺寸(U);

-第一特征的灵敏度值(Sm1)和可选地至少一个其他特征的灵敏度值(Sm2);

-夹杂物存在概率的阈值(xc)。

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法至少通过以下参数之一设置:

-中值滤波器的掩模尺寸(U);

-第一特征的灵敏度值(Sm1)和可选地至少一个其他特征的灵敏度值(Sm2);

-第二特征的平滑度值(xs);

-平滑化方法的平滑度补偿值(Pxs);

-夹杂物存在概率的阈值(xc)。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,对于多个相邻像素迭代地执行所述方法。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法基于由X射线图像和中值滤波图像形成的差异图像(3)。

11.计算机程序,用于在将计算机程序加载到计算机中时执行根据前述权利要求中任一项所述的方法。

12.根据权利要求11所述的计算机程序,其形成用于相对于图像或所选图像区域以自动方式执行所述方法。

13.一种存储介质,其具有存储在存储介质中的根据权利要求11或12所述的计算机程序。

14.根据权利要求1至10中任一项所述的方法或根据权利要求11或12中任一项所述的计算机程序或根据权利要求13的存储介质的应用,用于自动化材料测试。

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