[发明专利]一种示波器及其图像处理方法有效

专利信息
申请号: 201811054355.3 申请日: 2018-09-11
公开(公告)号: CN109212449B 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 胡明;蔡伟明;金占华;陈闰 申请(专利权)人: 优利德科技(中国)股份有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 东莞卓为知识产权代理事务所(普通合伙) 44429 代理人: 梁年顺
地址: 523000 广东省东莞市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 示波器 及其 图像 处理 方法
【说明书】:

发明涉及一种示波器及其图像处理方法,示波器包括:数据接收单元,用于接收热像数据;解析单元,用于将接收到的热像数据进行解析并得到热像图;计算单元,用于计算所述热像图各像素点的温度数据,并做算法补偿使温度数据更为精确;定位单元,用于对所述热像图各像素点的温度与标准温度参考值作比对,并对温度异常点进行定位;显示单元,用于显示热像图及温度异常点。通过本发明的示波器可以观测目标元器件的温度在单位时间内的变化曲线,也可以观测目标元器件温度与其电压信号的变化曲线,方便电子工程师分析元器件性能受温度影响的变化关系,进而排查电路设计问题。

技术领域

本发明属于电路检测领域,具体涉及一种示波器及其图像处理方法。

背景技术

目前,传统数字示波器对一般电路信号具有波形的分析功能,但是当电路中出现短路、元器件功率过大、电源利用率过低时,往往很难定位分析。而传统的热像仪,虽能够通过热像分析局部温度,进而具体的目标分析元器件的温度,但是又无法通过热像图分析具体电路问题,也无法观测目标元器件在单位时间内温度变化曲线,以及目标温度与其电信号的变化曲线,从而使得电子工程师无法分析元器件性能受温度影响的变化曲线,也就无法排查电路设计问题。

发明内容

针对上述问题,本发明的目的是提供一种结合热像仪的示波器及其图像处理方法,在传统示波器中嵌入红外温度补偿及校正等算法去解析前端热像仪接收回来的红外热辐射数据,用以解决现有技术中的热像仪和示波器无法反映目标元器件的温度在单位时间内变化曲线,以及目标温度与其电信号的变化曲线的问题。

为实现上述目的,本发明采取以下技术方案:

本发明中的一种示波器,包括用于采集被测目标表面红外辐射的前端数据接收系统、与所述前端数据接收系统通信并做数据处理显示的后端数据处理系统,以及给上述系统供电的电源系统,其具体系统模块包括:

前端数据接收系统,通过热成像传感器模组感应被测目标表面的红外热辐射,将红外热辐射转换成热像图的原始数据,并通过前端处理器做原始数据的预处理。

后端数据处理系统,用于处理前端热成像原始数据得到的热像图及温度信息,对图像信息在示波器屏上做显示,并对温度信息做算法补偿及校正,以此得到精确的温度信息。同时的,用于得出所述热像图上各个像素点的温度值,并与目标点标准温度参考值作比对,以便于快速定位温度异常点的精确位置。

电源系统,与上述前端数据接收系统、后端数据处理系统连接,用于将输入电压转换为多路电压,为整个系统中各类的芯片提供匹配的电源。

上述示波器,其特征在于,所述示波器包括:

数据接收单元,用于接收热像数据;

解析单元,用于将接收到的热像数据进行解析并得到热像图;

计算单元,用于计算所述热像图各像素点的温度数据,并做算法补偿使温度数据更为精确;

定位单元,用于对所述热像图各像素点的温度与标准温度参考值作比对,并对温度异常点进行定位;

显示单元,用于显示热像图及温度异常点。

上述示波器,优选的,所述示波器还包括:

温度分析单元,用于分析温度异常点的温度数据在时间阈值内的变化。

上述示波器,优选的,所述示波器还包括:

电压获取单元,用于获取所述温度异常点的电压并得到所述电压与时间的变化关系;

电压分析单元,用于分析温度异常点的电压与其温度的变化关系。

上述示波器,优选的,所述显示单元还用于显示温度异常点的温度数据在时间阈值内的变化曲线或温度异常点的电压与其温度的变化曲线。

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