[发明专利]一种AEP内存接口的压力检测方法及系统

说明书

一种AEP内存接口的压力检测方法及系统，方法包括如下步骤：判断AEP内存是否存在；若是，为AEP内存创建内存易失性模式；下载并安装AEP内存压力测试工具；获取AEP可用内存容量；AEP内存压力测试工具对设定比例的AEP内存容量进行设定时间的压力测试。系统包括AEP内存判断模块、内存易失性模式创建模块、内存压力测试工具安装模块、可用内存容量获取模块、压力测试模块、压力测试结果输出模块、内存错误判断模块以及内存错误输出模块。本发明采用AEP内存压力测试工具stessapptest在服务器上实现AEP内存随机流量最大化内存压力接口测试，最大化将随机记忆交流到处理器和I/O。

技术领域

本发明属于内存接口检测领域，具体涉及一种AEP内存接口的压力检测方法及系统。

背景技术

AEP内存简称Apache Pass DIMMs，为高性能和灵活性而设计的，The Intel®Optane™ DC persistent memory (DCPMM)是新一代直流持久记忆非易失性存储器模块，引入Optane™媒体技术记忆媒体DDR4形式因素。支持内存操作模式是Memory Mode(volatile)和App Direct (persistent memory)。AEP内存接口测试是随机流量最大化内存测试，创建一个实际的高负载情况下压力系统内存，测试计划必须包括矩阵的计划DCPMM(2 LM)DIMM的入口，在每个支持Linux操作系统环境，确定可用的系统内存映射的数量以兆字节为单位，执行stressapptest指定映射系统的只有90%内存和一个扩展的时间压力测试，消费所有内存资源将导致一个非常缓慢的或没有响应系统

目前AEP内存接口测试的方法比较少，更是没有一种随机流量最大化内存压力测试的方法，然而在未来的5G技术高延迟要求下，随机流量最大化测试将是一种必须衡量的测量工具，以保障低延迟、快速回馈的系统响应。

此为现有技术的不足，因此，针对现有技术中的上述缺陷，提供一种AEP内存接口的压力检测方法及系统，是非常有必要的。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述AEP内存接口测试的方法比较少，缺少随机流量最大化内存压力测试方法的缺陷，提供一种AEP内存接口的压力检测方法及系统，以解决上述技术问题。

为实现上述目的，本发明给出以下技术方案：

一种AEP内存接口的压力检测方法，包括如下步骤：

S1.判断AEP内存是否存在；

S2.若是，为AEP内存创建内存易失性模式；

S3.下载并安装AEP内存压力测试工具；

S4.获取AEP可用内存容量；

S5.AEP内存压力测试工具对设定比例的AEP内存容量进行设定时间的压力测试。

进一步地，步骤S5之后还包括如下步骤：

S6.将AEP内存压力测试结果输出到内存检测日志。

进一步地，步骤S6之后还包括如下步骤：

S7.获取内存检测日志，判断是否有内存错误；

S8.若有,输出内存错误；结束。

进一步地，所述内存错误包括不可修复的内存失败、系统崩溃或挂起行为。

进一步地，步骤S8中，若无内存错误，则结束。

进一步地，步骤S2中，若AEP内存不存在，则结束。

进一步地，所述AEP内存压力测试工具采用stessapptest内存压力测试工具。

进一步地，步骤S3的具体步骤如下：