[发明专利]一种辅助硬通孔掩膜版和样品进行精确对准的装置有效
申请号: | 201811047890.6 | 申请日: | 2018-09-10 |
公开(公告)号: | CN109065493B | 公开(公告)日: | 2023-09-05 |
发明(设计)人: | 包文中;昝武;郭晓娇;胡荣民;周鹏 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;陆尤 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 辅助 硬通孔掩膜版 样品 进行 精确 对准 装置 | ||
本发明属于薄膜材料技术领域,具体为一种辅助硬通孔掩膜版和样品进行精确对准的装置。本发明装置包括:样品托盘、载物圆盘、掩膜版吸附头、位移调节装置,显微镜等;其中,载物圆盘具有旋转调整自由度,载物圆盘旋转带动样品托盘旋转,从而精确控制样品旋转角度;位移调节装置具有X、Y、Z三轴的旋转和水平调整自由度;通过位移调节装置可以精确调整通孔硬掩膜版的位置;本整个装置结构简单,操作方便,对准精度高,具有很强的实用性。在一定程度上替代了光刻的功能,避免了光刻过程中光刻胶对样品产生影响,非常适合有机材料或者二维材料(石墨烯等)等薄膜材料的器件加工。
技术领域
本发明属于薄膜材料技术领域,具体涉及一种辅助硬通孔掩膜版和样品进行精确对准的装置。
背景技术
在有机半导体或者二维材料的器件制作过程中,定义电极图形主要有光刻曝光图形(使用光掩膜板)和使用通孔硬掩膜版定义图形两种方法。其中,光刻定义图形需要在衬底上旋涂光刻胶,显影过后不可避免地会有光刻胶残留,导致器件的性能退化,譬如难以形成良好的金属半导体接触,影响载流子迁移率等等。相比之下,使用通孔硬掩膜版,可以直接对通孔暴露的部位进行器件工艺加工(譬如金属蒸镀,干法刻蚀等等),过程中不需要接触任何化学物质,因此不会对薄膜材料造成损伤。
然而,通常的实验或者加工过程中,没有一个很好的通孔硬掩膜版与样品的对准方法,往往采用手动对准等比较粗糙的方法,而当通孔硬掩膜版精度较高时,就很难实现精确对准。已有的手段一般采用小型对准装置(参考实用新型CN104064505A)将样品与通孔硬掩膜版对准固定后,一起进行后续加工(蒸镀或者刻蚀,等等),该装置比较笨重且操作过程容易损坏对准状态。也有直接在加工设备(蒸镀机或者刻蚀机,等等)内部安装遥控对准装置,但是成本非常昂贵。
发明内容
本发明的目的在于提供一种对准精度高、设备成本低的辅助硬通孔掩膜版和样品进行精确对准的装置。
本发明提供的辅助硬通孔掩膜版和样品进行精确对准的装置,拥有多个自由度(包括X、Y、Z三轴的旋转和水平调整自由度),在实现样品与通孔硬掩膜版对准后,与对准平台进行脱离。因而可以方便的进行下一步的加工。此装置可以实现样品与硬掩膜版的精确对准,在一定程度上替代了光刻的功能,避免了光刻过程中光刻胶对样品产生影响的问题。
本发明提供的辅助硬通孔掩膜版和样品进行精确对准的装置,其结构如图1所示,包括:样品托盘1,载物圆盘3,载物圆盘夹具2,掩膜版吸附头5,位移调节装置6,显微镜7;其中,样品托盘1用于装载样品;样品托盘1通过载物圆盘夹具2同轴固定于载物圆盘3上;样品固定在样品托盘1上;载物圆盘3具有旋转调整自由度,载物圆盘3旋转带动样品托盘1旋转,从而精确控制样品旋转角度;位移调节装置6具有X、Y、Z三轴的旋转和水平调整自由度;位移调节装置6有一伸出臂,掩膜版吸附头5固定在伸出臂上,通孔硬掩膜版4放置于掩膜版吸附头5底部,掩膜版吸附头5底部设有小孔,可以在外部泵机抽力的作用下吸附住通孔硬掩膜版4;通过位移调节装置6,可以精确调整通孔硬掩膜版4的位置;载物圆盘3和位移调节装置6固定在同一水平板上。
本发明中,通孔硬掩膜版吸附方式可以有两种:
方式一:所述通孔硬掩膜版吸附头5底部有可与外部抽气泵机相连的小孔,外部泵机抽气时可以吸附通孔硬掩膜版4,关闭气泵,通孔硬掩膜版4即可与吸附头5分离;
方式二:采用电磁铁吸附(掩膜版相应的位置需附加铁片),可以通过电流的开关来控制吸附与否。
另外,样品托盘1上还设有弹性夹具8,另外可附设一磁性薄片9,用于固定对准后样品与通孔硬掩膜版4。
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