[发明专利]一种渐开线内花键齿形微小角度偏移测量的方法

说明书

发明提供一种渐开线内花键齿形微小角度偏移测量的方法。该方法，包括将叠放测零件、花键心轴穿过零件内花键、测量零件内花键公共区域内壁值等步骤。该方法可实现大批量检测零件关键特性的质量品质，达到控制重要参数特性的目的。

技术领域

本发明涉及机械加工技术领域，具体涉及渐开线内花键齿形微小角度偏移量的测量。

背景技术

在包含渐开线内花键结构的产品中，经常有渐开线内花键齿形对基准中心线微小角度(＜2°)偏移的要求。渐开线内花键加工后，关键特性必须加以测量与控制。然而，常规方法无法直接测量得到渐开线内花键齿形对基准中心线微小角度偏移量，导致在新产品试制阶段该参数无法加以控制。大批量生产时，产品缺陷尤其突出。

发明内容

本发明的目的是提供一种渐开线内花键齿形微小角度偏移测量的方法，以解决现有技术中存在的问题。

为实现本发明目的而采用的技术方案是这样的，一种渐开线内花键齿形微小角度偏移量的测量方法，包括以下步骤：

1)将两个待测零件叠放在一起。其中，所述待测零件上具有零件内花键和零件基准孔。

2)使用花键心轴依次穿过两个待测零件的零件内花键，将两个待测零件的位置固定。所述两个待测零件的零件内花键重合，两个待测零件的零件基准孔出现位置差异。其中，所述花键心轴的外壁上设置有与零件内花键参数相同的外花键。

3)测量两个待测零件的零件基准孔公共区域内壁值BB′。

进一步，步骤3)之后还具有通过公共区域内壁值BB′计算渐开线内花键微小角度偏移量б的相关步骤。

本发明的技术效果是毋庸置疑的：

A.检验人员可以方便快捷测量并判定渐开线内花键齿形微小角度偏移量是否满足产品设计要求，达到控制重要参数特性的目的；

B.可实现批量检测零件关键特性的质量品质。

附图说明

图1为待测零件结构示意图；

图2为花键心轴结构示意图；

图3为工作示意图；

图4为测量原理图。

图中：花键心轴3、外花键301、待测零件4、零件内花键401、零件基准孔402。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步说明，但不应该理解为本发明上述主题范围仅限于下述实施例。在不脱离本发明上述技术思想的情况下，根据本领域普通技术知识和惯用手段，做出各种替换和变更，均应包括在本发明的保护范围内。

实施例1：

参见图1，待测零件4上具有零件内花键401和零件基准孔402。参见图2，花键心轴3的外壁上设置有与零件内花键401参数相同的外花键301。

待测零件4的零件内花键401对应分度圆的圆心为O₁，零件基准孔402对应圆的圆心为O₂。以O₁O₂连线为基准中心线。待测零件4 对于零件内花键401渐开线内花键齿形相对基准中心线的微小角度偏移量有严格要求。在待测零件4的设计方案中，花键齿顶a相对于基准中心线O₁O₂的角度偏移为1.41°，即直线O₁O₂与直线O₁a之间的设计夹角为1.41°。然而，在实际生产中，渐开线花键相对于名义尺寸位置会出现偏移。常规方法无法直接测量得到渐开线内花键齿形对基准中心线微小角度偏移量，导致在新产品试制阶段该参数无法加以控制。