[发明专利]一种快速对焦测量方法有效
申请号: | 201811038512.1 | 申请日: | 2018-09-06 |
公开(公告)号: | CN108873241B | 公开(公告)日: | 2020-01-31 |
发明(设计)人: | 巫孟良;巫承熹;巫承霖 | 申请(专利权)人: | 广东万濠精密仪器股份有限公司 |
主分类号: | G02B7/32 | 分类号: | G02B7/32 |
代理公司: | 35203 厦门市新华专利商标代理有限公司 | 代理人: | 吴成开;徐勋夫 |
地址: | 523000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 点像 光源 摄像单元 待测物 快速对焦 焦距 灯光颜色 测量 对焦 对称 照射 | ||
本发明公开一种快速对焦测量方法,在摄像单元C的两对称侧分别设置至少光源A和光源B,光源A和光源B发出的灯光颜色不同,且光源A和光源B均朝向摄像单元C的焦距点照射并在待测物D上分别对应产生点像A′和点像B′;当对焦时,点像A′和点像B′重叠;当待测物D远离焦距时,点像A′和点像B′分别位于摄像单元C的不同侧;当待测物D近过焦距时,光源A与点像A′位于摄像单元C的同一侧,光源B与点像B′位于摄像单元C的另一同一侧;由灯光颜色位置即可直接判断摄像单元C距离待测物D是过近还是过远,以便实现快速对焦测量,为使用带来了方便。
技术领域
本发明涉及测量设备领域技术,尤其是指一种快速对焦测量方法。
背景技术
目前,图像对焦方法主要有两种,一种是采用同轴激光对焦,另一种是利用软件计算进行对焦。其中采用同轴激光对焦成本较高,并且需要对镜头进行修改,使用起来较为不便;其次,采用软件方式需要多次抓图,需要建立评价函数,并找出最大值,该最大值被认为是对焦,这种方式效率低,并且对焦精度不高。
发明内容
有鉴于此,本发明针对现有技术存在之缺失,其主要目的是提供一种快速对焦测量方法,其能有效解决现有之对焦方法速度慢、效率的问题。
为实现上述目的,本发明采用如下之技术方案:
一种快速对焦测量方法,在摄像单元C的两对称侧分别至少设置光源A和光源B,光源A和光源B发出的灯光颜色不同,且光源A和光源B均朝向摄像单元C的焦距点照射并在待测物D上分别对应产生点像A′和点像B′;当对焦时,点像A′和点像B′重叠;当待测物D远离焦距时,点像A′和点像B′分别位于摄像单元C的不同侧;当待测物D近过焦距时,光源A与点像A′位于摄像单元C的同一侧,光源B与点像B′位于摄像单元C的另一同一侧;由灯光颜色位置即可直接判断摄像单元C距离待测物D是过近还是过远。
作为一种优选方案,包括有以下步骤:
(1)找出函数Hi=f(Ai′-Bi′)的列表并存入系统中:
(1.1)开启光源A和光源B,调整焦距,对焦后,摄像单元C与待测物D之间的距离d=焦距df,调整光源A和光源B使其对应的点像A′和点像B′重叠,归零,即H0= f(Ai′-Bi′)= f(A0′-B0′);
(1.2)将摄像单元C、光源A和光源B向上移动,每移动1个步距,分别得到Ai′和Bi′,将Ai′和Bi′存表,Hi=距离H0的距离,建立一个表 Hi=f(Ai′-Bi′),由Ai与Bi的相差值,查表求得Hi;
(2)查表快速对焦移位:
(2.1)点亮光源A和光源B,摄像单元C进行拍照,系统读取图像信息,判断光源A与点像A′以及光源B与点像B′是否在同一侧;
(2.2)若不在同一侧,向上快速移动Hi=f(Ai′-Bi′),Hi根据查表f(Ai′-Bi′)得知;若在同一侧,向下快速移动Hi=f(Ai′-Bi′),Hi根据查表f(Ai′-Bi′)得知;若点像A′与点像B′重合,无需移动;
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