[发明专利]磁控管自然贮存寿命预测方法在审
申请号: | 201811028480.7 | 申请日: | 2018-09-03 |
公开(公告)号: | CN109325270A | 公开(公告)日: | 2019-02-12 |
发明(设计)人: | 李坤兰;胡湘洪;王春辉;张博;黄创绵 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 付建军 |
地址: | 510610 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 磁控管 寿命预测模型 贮存寿命 寿命特征参数 预测 可用 军工产品 退化 特征参数 退化数据 维修 检验 | ||
本发明公开了一种磁控管自然贮存寿命预测方法,包括以下步骤:确定磁控管的自然贮存寿命特征参数;确定所述寿命特征参数中退化较快的寿命特征参数;对所述退化较快的寿命特征参数的退化数据组成的序列建立磁控管寿命预测模型;检验所述寿命预测模型的预测精度,判断所述寿命预测模型是否可用;如果所述寿命预测模型可用,则利用所述寿命预测模型来进行磁控管的自然贮存寿命预测。本发明能够实现磁控管的自然贮存寿命的预测,为军工产品的定延寿、维修提供依据。
技术领域
本发明涉及元器件寿命预测技术,尤其涉及一种磁控管自然贮存寿命预测方法。
背景技术
现代军工产品具有长期贮存的特点,贮存寿命是其重要的质量特性。磁控管是一种用来产生微波能的电真空器件,广泛用于雷达发生器,是军工产品的重要组成部分,因而开展磁控管的自然贮存寿命研究是非常重要的。自然贮存是指元器件在自然环境下的贮存。
在航空、航天、电子等领域,存在大量像磁控管这样的高可靠、长寿命产品,几乎无法通过寿命试验或加速寿命试验取得这些产品的失效寿命数据,甚至还会出现“零失效”现象,因此无法使用传统的寿命外推理论来预测这些产品的寿命。
自然贮存试验能够获得真实的磁控管的性能退化数据,对贮存退化数据进行研究能获得相对较高准确性的结论,能为军工产品的设计、定延寿和修理提供有力技术支持。
对于长寿命产品,通常采用加速寿命试验建立产品寿命与应力之间关系的加速方程,然后使用外推方法预测产品在正常应力下的寿命。这种方法比较适合技术复杂性低和大批量生产的标准性产品。但加速寿命试验不适用于高技术复杂结构和小批量生产的军工产品,主要体现在如下两方面。
A、小子样问题。
现代军工产品具有“多品种、小批量、快速生产”的特点,因此用来开展加速寿命试验的样品量也是小子样,获得的失效数据也少,因此用不过需要大量失效数据的加速寿命试验方法来预测寿命,其可信度就会受到质疑。
B、长寿命问题。
对于长寿命产品而言,在有限的加速试验时间内,很难或得失效数据,往往是没有失效数据,此时,无法用建立的可靠性寿命分布模型,因此无法预测寿命。
发明内容
本发明的目的在于提供一种磁控管自然贮存寿命预测方法,解决磁控管长期自然贮存寿命的预测问题,可为军工产品的定延寿、维修提供依据。
为了实现上述目的,本发明的一个方面提供一种磁控管自然贮存寿命预测方法,包括以下步骤:确定磁控管的自然贮存寿命特征参数;确定所述寿命特征参数中退化较快的寿命特征参数;对所述退化较快的寿命特征参数的退化数据组成的序列建立磁控管寿命预测模型;检验所述寿命预测模型的预测精度,判断所述寿命预测模型是否可用;如果所述寿命预测模型可用,则利用所述寿命预测模型来进行磁控管的自然贮存寿命预测。
根据本发明的上述一个方面的磁控管自然贮存寿命预测方法,能够实现磁控管的自然贮存寿命的预测,为军工产品的定延寿、维修提供依据。
具体实施方式
为了使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面将对本发明的具体实施方式作进一步的详细说明。
本发明的发明人在开展了22年自然环境试验的基础上,利用表征产品寿命特征的性能参数在自然贮存过程中的逐步退化的数据,克服了长寿命产品寿命预测信息不足的问题,成功形成磁控管的自然贮存寿命预测方法,能实现磁控管的自然贮存寿命的预测。贮存寿命特征参数是元器件在自然贮存环境下易受到环境因素影响的性能参数,该参数表征了元器件的贮存寿命特征。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)),未经中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811028480.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。