[发明专利]一种基于学习的显示屏缺陷智能检测方法及装置有效
申请号: | 201811024270.0 | 申请日: | 2018-09-04 |
公开(公告)号: | CN109146873B | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 时广军;姚毅;马增婷;路建伟 | 申请(专利权)人: | 凌云光技术股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 100094 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 学习 显示屏 缺陷 智能 检测 方法 装置 | ||
本申请提供了一种基于学习的显示屏缺陷智能检测方法及装置,其中,所述方法包括:获取屏幕的待检测图像;根据预设网络参数,确定所述待检测图像的可疑缺陷信息;根据所述可疑缺陷信息,提取缺陷特征数值;根据所述缺陷特征数值,确定最终检测结果;汇总全部所述最终检测结果为结果集合;随机抽取所述结果集合中的所述最终检测结果为抽检样本,并重新检测所述抽检样本,确定检测结果与所述最终检测结果不同的结果为待反馈结果;反馈所述待反馈结果,根据所述待反馈结果学习并生成下一预设网络参数;根据所述下一预设网络参数,更新所述预设网络参数,并根据更新后的预设网络参数,检测下一待检测图像。
技术领域
本申请涉及屏幕检测技术领域,尤其涉及一种基于学习的显示屏缺陷智能检测方法及装置。
背景技术
“新型显示产业”作为我国政府支持的新兴战略产业之一,近年来在政府的积极扶持下取得了长足的进步。目前,我国液晶显示行业正在经历常能扩张、出货增加以及技术提升阶段。显示屏缺陷检测是显示屏制造企业保证出货品质的重要环节。目前,屏幕检测方法主要有人工检测和AOI设备检测两种。其中,AOI设备检测方法逐渐替代传统的人工检测成为主流检测方法,但是其也面临着缺陷基准不稳定、缺陷类型复杂、检测设备的检测参数调整复杂、设备调试耗时较长以及对高发缺陷响应滞后等问题。
AOI检测设备中采用的原有视觉检测方法主要由四部分组成,分别为图像采集部分、缺陷提取部分、特征分析部分和数据汇总部分。其中,缺陷提取部分主要采用阈值分割图像处理方法,针对不同类型缺陷和场景需要采用不同的提取方法,鲁棒性差;特征分析部分采用人工手动设定阈值的方法,根据当缺陷特征值大于阈值时判定为缺陷的原理,但是参数调整复杂,且受人工经验影响较大,响应较慢。
发明内容
本申请提供了一种基于学习的显示屏缺陷智能检测方法及装置,以解决现有屏幕缺陷检测方法操作繁琐、响应慢的问题。
本申请第一方面提供了一种基于学习的显示屏缺陷智能检测方法,所述方法包括:
获取屏幕的待检测图像;
根据预设网络参数,确定所述待检测图像的可疑缺陷信息,所述可疑缺陷信息至少包括:可疑缺陷区域和对应的可疑缺陷类型;
根据所述可疑缺陷信息,提取缺陷特征数值;
根据所述缺陷特征数值,确定最终检测结果,所述最终检测结果至少包括:可疑缺陷信息判定结果和所述可疑缺陷信息;
汇总全部所述最终检测结果为结果集合;
随机抽取所述结果集合中的所述最终检测结果为抽检样本,并重新检测所述抽检样本,确定检测结果与所述最终检测结果不同的结果为待反馈结果;
反馈所述待反馈结果,根据所述待反馈结果学习并生成下一预设网络参数;
根据所述下一预设网络参数,更新所述预设网络参数,并根据更新后的预设网络参数,检测下一待检测图像。
结合第一方面,在第一方面的第一种可实现方式中,所述根据所述缺陷特征数值,确定最终检测结果的具体步骤包括:
对比所述缺陷特征数值与预设特征缺陷数值;
确定大于所述预设特征缺陷数值的所述缺陷特征数值所对应的所述可疑缺陷区域为机检缺陷;
确定小于或者等于所述预设特征缺陷数值的所述缺陷特征数值所对应的所述可疑缺陷为排疑缺陷;
确定上述判断结果为最终检测结果。
结合第一方面,在第一方面的第二种可实现方式中,所述汇总全部所述最终检测结果为结果集合的具体步骤包括:
标记并编号所述最终检测结果;
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