[发明专利]识别装置以及电子设备在审

专利信息
申请号: 201811010955.X 申请日: 2018-08-31
公开(公告)号: CN109684907A 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 小野博明 申请(专利权)人: 索尼半导体解决方案公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G01S17/08
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 李成必;李雪春
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 对象物 反射光信息 识别装置 电子设备 对象物识别部 对象物检测 传感数据 传感器 反射光 环境光 计算部 照射光 检测 探测
【权利要求书】:

1.一种识别装置,其特征在于,具备:

直接反射光信息计算部,基于对对象物照射光而探测所述光的TOF传感器获得的传感数据,计算与来自所述对象物的直接反射光相关的直接反射光信息;

对象物检测部,基于所述直接反射光信息检测所述对象物;以及

对象物识别部,基于所检测到的所述对象物的所述直接反射光信息来进行该对象物的识别。

2.根据权利要求1所述的识别装置,其特征在于,

所述TOF传感器具有相互差动的第1受光部以及第2受光部,

所述直接反射光信息计算部基于利用所述第1受光部以及第2受光部探测到的所述光的强度来计算所述直接反射光信息。

3.根据权利要求1所述的识别装置,其特征在于,

所述TOF传感器具有1个受光部和在互不相同的时机读取所述受光部所接受的光的第1读取部以及第2读取部,

所述直接反射光信息计算部基于利用所述第1读取部以及第2读取部读取到的所述光的强度来计算所述直接反射光信息。

4.根据权利要求2所述的识别装置,其特征在于,所述直接反射光信息计算部基于利用所述第1受光部探测到的光的强度的积分值与利用所述第2受光部探测到的光的强度的积分值之间的差分,计算所述直接反射光信息。

5.根据权利要求1所述的识别装置,其特征在于,还具备正规化处理部,所述正规化处理部对所述检测到的对象物的直接反射光信息进行正规化。

6.根据权利要求5所述的识别装置,其特征在于,

所述正规化处理部,

以使得从所述TOF传感器至所述对象物为止的距离与规定距离一致的方式,或者

以使得所述对象物的大小与规定大小一致的方式,或者

以使得所述对象物的朝向与规定朝向一致的方式,或者

以使得所述检测到的对象物的直接反射光信息的明亮度与规定明亮度一致的方式,

对所述检测到的对象物的直接反射光信息进行正规化。

7.根据权利要求1所述的识别装置,其特征在于,

还具备存储部,所述存储部存储所述对象物的直接反射光信息,

所述对象物识别部通过将预先存储的所述对象物的直接反射光信息与新计算出的所述对象物的直接反射光信息进行对照来进行所述对象物的识别。

8.根据权利要求7所述的识别装置,其特征在于,所述存储部存储正规化后的所述对象物的直接反射光信息。

9.根据权利要求1所述的识别装置,其特征在于,

还具备距离信息计算部,所述距离信息计算部基于所述传感数据计算所述对象物的距离信息,

所述对象物识别部基于所述距离信息来进行所述对象物的识别。

10.一种识别装置,其特征在于,具备:

距离信息计算部,基于对对象物照射光而探测所述光的TOF传感器获得的传感数据,计算所述对象物的距离信息;

对象物检测部,基于所述距离信息检测所述对象物;以及

对象物识别部,基于所检测到的所述对象物的所述距离信息来进行该对象物的识别。

11.根据权利要求10所述的识别装置,其特征在于,

所述TOF传感器具有相互差动的第1受光部以及第2受光部,

所述距离信息计算部基于利用所述第1受光部以及第2受光部探测到的所述光的强度来计算所述距离信息。

12.根据权利要求10所述的识别装置,其特征在于,

所述TOF传感器具有1个受光部和在互不相同的时机读取所述受光部所接受的光的第1读取部以及第2读取部,

所述距离信息计算部基于利用所述第1读取部以及第2读取部读取到的所述光的强度来计算所述距离信息。

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