[发明专利]一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法

说明书

本发明提供了一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法，包括取WIC镶嵌线，清洁线材样品骨架，固定到线材样品骨架一端，将样品夹持到绕样机上，线材样品顺着滚轮的方向绕制用螺丝固定，进行锡焊固定，取一根漆包线，焊到绕制的WIC线圈上3圈，用低温胶带对电位线进行包裹固定，打磨去除两侧铜环上的异物，样品在低温环境下进行测试，测量得到的曲线并做出相应的计算处理得出临界电流值。利用本发明WIC线材样品骨架，制备出的样品与槽体紧密结合，形状统一，绕制出的样品无侧翻扭弯等不良现象，消除了因制样人员不同而导致的人为不稳定因素，整个制样过程操作简单过程标准化，在超导线材测量领域具有广泛适用性。

技术领域

本发明属于超导材料性能测量技术领域，涉及一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法。

背景技术

以NbTi和Nb₃Sn为代表低温超导线材是目前应用最广泛的超导体。在核磁共振成像仪(MRI)、核磁共振谱仪(NMR)、大型粒子加速器及超导储能系统(SMES)，磁约束核聚变装置(Tokamak)等多个领域有着极其广泛的应用。

而今，随着国内低温超导线材大规模生产的展开，线材种类增加，面向的客户群也在日益增大。WIC镶嵌线的产量也日益加大，样品制备的成品率要求也应逐渐增加，原有ITER骨架已不能满足目前WIC镶嵌线样品的正常绕制。由于WIC镶嵌线的结构特殊由铜槽线和圆芯线镶嵌而成，有着尺寸大、铜比大的特征，在绕制过程中很耗时耗力，制备出的样品与槽体结合性差，形状难统一，绕制出的样品存在侧翻扭弯等不良现象，因制样人员不同而导致的人为不稳定因素，整个制样过程难以标准一致。

发明内容

针对现有技术中在绕制过程中很耗时耗力，制备出的样品与槽体结合性差，形状难统一，绕制出的样品存在侧翻扭弯等不良现象，因制样人员不同而导致的人为不稳定因素，整个制样过程难以标准一致的技术问题，本发明提供了一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法，将样品卡入到槽体里，利用本发明WIC线材样品骨架，制备出的样品与槽体紧密结合，形状统一，绕制出的样品无侧翻扭弯等不良现象，消除了因制样人员不同而导致的人为不稳定因素，整个制样过程操作简单过程标准化，在超导线材测量领域具有广泛适用性。

本发明提供了一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法，包括如下步骤：

步骤1：取WIC镶嵌线，清洁线材样品骨架，用超声波清洗机对骨架清洗干净后脱水烘干。

步骤2：将线材样品一端绕弯，固定到线材样品骨架一端，将样品夹持到绕样机上，线材样品顺着滚轮的方向。

步骤3：线材样品顺着螺纹进行绕制，线材样品绕制到另一侧铜环时，将样品尾端绕在螺栓上用螺丝固定。

步骤4：对线材样品骨架两端铜环上绕制的WIC镶嵌线进行锡焊固定。

步骤5：取一根漆包线，将两端的漆剥掉，将漆包线焊到所绕制的WIC线圈上3圈，焊接完成后剪去一端长5cm-15cm，另一端顺着螺纹进行绕制，待绕到另一处焊点处，将漆包线进行双绞。

步骤6：用低温胶带对电位线进行包裹固定。

步骤7：打磨去除两侧铜环上的异物，样品在低温环境下进行测试，测量得到的曲线并做出相应的计算处理得出临界电流值。

本发明中，步骤1取2.2m的WIC镶嵌线，清洁线材样品骨架时用超声波清洗机对骨架清洗干净取出后放入无水乙醇脱水并烘干，样品清洁全程制样者佩戴手套；步骤3线材样品绕制全程应佩戴洁净的手套；步骤4用专用的烙铁对骨架两端铜环上绕制的WIC镶嵌线进行锡焊固定，焊接过程应佩戴3M口罩，焊锡用低熔点的焊锡丝，样品焊接完成后将两端铜环上的螺栓全部拆除；步骤6将焊点处的焊锡膏用酒精进行擦拭清洁，用低温胶带对电位线进行包裹固定。