[发明专利]测量材料表面形变的方法及装置在审
| 申请号: | 201810995749.2 | 申请日: | 2018-08-29 |
| 公开(公告)号: | CN109141267A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
| 发明(设计)人: | 冯雪;唐云龙;屈哲;岳孟坤;朱相宇;方旭飞;李燕 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
| 主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像 形变 表面形变 测量材料 试件表面 试件 辐射光 烧蚀 图像处理过程 紫外光照射 图像测试 图像确定 紫外相机 校正 采集 | ||
1.一种测量材料表面形变的方法,其特征在于,包括:
获取试件在被烧蚀过程中所述试件表面产生形变之前的第一图像以及产生形变之后的第二图像,所述第一图像以及所述第二图像通过紫外相机采集得到,所述试件在被烧蚀的过程中被紫外光照射;
根据所述第一图像以及所述第二图像确定所述试件表面产生的形变。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述第一图像以及所述第二图像,包括:
获取通过两个紫外相机同步采集的一组所述第一图像以及一组所述第二图像。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述紫外相机为双目紫外相机,所述获取所述第一图像以及所述第二图像,包括:
获取所述双目紫外相机采集的一组所述第一图像以及一组所述第二图像。
4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一图像以及所述第二图像确定所述试件表面产生的形变,包括:
在所述第二图像中确定与所述第一图像中的第一采样区域纹理特征一致的第二采样区域,所述第一采样区域以及所述第二采样区域为所述试件表面的同一子区域;
基于所述第一采样区域的中心的第一坐标以及所述第二采样区域中心的第二坐标计算所述试件对应的位移场;
根据所述位移场确定所述子区域发生形变对应的应变场,作为所述试件表面发生形变对应的应变场。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述试件表面附着有耐烧蚀的散斑,或者所述试件表面具有裂纹、凹槽或凸起。
6.一种测量材料表面形变的装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取试件在被烧蚀过程中所述试件表面产生形变之前的第一图像以及产生形变之后的第二图像,所述第一图像以及所述第二图像通过紫外相机采集得到,所述试件在被烧蚀的过程中被紫外光照射;
确定模块,用于根据所述第一图像以及所述第二图像确定所述试件表面产生的形变。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述获取模块,包括:
获取通过两个紫外相机同步采集的一组所述第一图像以及一组所述第二图像。
8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述紫外相机为双目紫外相机,所述获取模块用于:
获取所述双目紫外相机采集的一组所述第一图像以及一组所述第二图像。
9.根据权利要求7或8所述的装置,其特征在于,所述确定模块,包括:
第一确定单元,用于在所述第二图像中确定与所述第一图像中的第一采样区域纹理特征一致的第二采样区域,所述第一采样区域以及所述第二采样区域为所述试件表面的同一子区域;
计算单元,用于基于所述第一采样区域的中心的第一坐标以及所述第二采样区域中心的第二坐标计算所述试件对应的位移场;
第二确定模块,用于根据所述位移场确定所述子区域发生形变对应的应变场,作为所述试件表面发生形变对应的应变场。
10.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述试件表面附着有耐烧蚀的散斑,或者所述试件表面具有裂纹、凹槽或凸起。
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