[发明专利]电路板瑕疵筛选方法及其装置与计算机可读取记录介质有效

专利信息
申请号: 201810995037.0 申请日: 2018-08-29
公开(公告)号: CN110021005B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 梁明况;罗安钧;邓宇珊;沈志明;戴明吉 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/764;G06V10/82;G06K9/62
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 徐协成
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电路板 瑕疵 筛选 方法 及其 装置 计算机 读取 记录 介质
【权利要求书】:

1.一种电路板瑕疵筛选方法,包括:

接收瑕疵列表;

获取该瑕疵列表的多个瑕疵记录的多个瑕疵图像;

接收线路布局图;

依据该线路布局图,分析这些瑕疵图像之中的第一瑕疵图像的瑕疵位置;

依据该第一瑕疵图像的瑕疵位置,对该第一瑕疵图像进行裁切,以获得第一裁切瑕疵图像;

将该第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型;

依据该瑕疵分类模型的输出结果,判断该第一瑕疵图像为良品图像或非良品图像,并将该瑕疵列表中属于该非良品图像的纪录传送至验证修复机台,

其中,若该第一瑕疵图像相应的该输出结果属于在后续的工业工艺中能被克服的瑕疵类型,则该第一瑕疵图像被标记为该良品图像且不传送至该验证修复机台,以缩短该瑕疵列表的长度。

2.如权利要求1所述的电路板瑕疵筛选方法,其中将该第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型的步骤包括:

将该第一瑕疵图像输入至卷积类神经网络模型,以提取该第一瑕疵图像的瑕疵特征;以及

依据参考图像组特征分类该瑕疵特征,以产生该输出结果。

3.如权利要求1所述的电路板瑕疵筛选方法,其中将该第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型的步骤包括:

提取该第一裁切瑕疵图像的瑕疵轮廓;

依据该瑕疵轮廓分析该第一裁切瑕疵图像,以产生瑕疵量化特征;以及

依据参考量化特征组分类该瑕疵量化特征,以产生该输出结果。

4.如权利要求1所述的电路板瑕疵筛选方法,还包括:

分析该第一瑕疵图像的瑕疵色阶;

判断该瑕疵色阶是否与该线路布局图的版材颜色或线材颜色相同;以及

当该瑕疵色阶相同于该版材颜色或该线材颜色,判断该第一瑕疵图像为该非良品图像。

5.如权利要求1所述的电路板瑕疵筛选方法,依据该线路布局图,分析这些瑕疵图像之中的该第一瑕疵图像的瑕疵位置的步骤包括:

依据该线路布局图的比例调整该第一瑕疵图像的比例;

比对该线路布局图及该第一瑕疵图像,以获取该第一瑕疵图像在该线路布局图中的位置;以及

校正该第一瑕疵图像与该线路布局图中的位置,以获取该瑕疵位置。

6.一种电路板瑕疵筛选装置,包括:

输入单元,接收瑕疵列表以及线路布局图,其中该瑕疵列表包括多个瑕疵记录,该输入单元还获取这些瑕疵记录的多个瑕疵图像;

存储单元,存储多个模块;以及

处理单元,连接于该输入单元及该存储单元,该处理单元被配置为:

依据该线路布局图,分析这些瑕疵图像之中的第一瑕疵图像的瑕疵位置,并依据该第一瑕疵图像的瑕疵位置,对该第一瑕疵图像进行裁切,以获得第一裁切瑕疵图像;

将该第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型,依据该瑕疵分类模型的输出结果,判断该第一瑕疵图像为良品图像或非良品图像,并将该瑕疵列表中属于该非良品图像的纪录传送至验证修复机台,

其中,若该第一瑕疵图像相应的该输出结果属于在后续的工业工艺中能被克服的瑕疵类型,则该第一瑕疵图像被标记为该良品图像且不传送至该验证修复机台,以缩短该瑕疵列表的长度。

7.如权利要求6所述的电路板瑕疵筛选装置,其中,该处理单元还被配置为:

将该第一瑕疵图像输入至卷积类神经网络模型,以提取该第一瑕疵图像的瑕疵特征,

依据参考图像组特征分类该瑕疵特征,以产生该输出结果。

8.如权利要求6所述的电路板瑕疵筛选装置,其中,该处理单元还被配置为:

提取该第一裁切瑕疵图像的瑕疵轮廓,

依据该瑕疵轮廓分析该第一裁切瑕疵图像,以产生瑕疵量化特征,

依据参考量化特征组分类该瑕疵量化特征,以产生该输出结果。

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