[发明专利]一种表面粗糙度表征方法

权利要求书

1.一种表面粗糙度表征方法，其特征在于，步骤如下：

步骤1、利用粗糙度测量仪器测量已加工工件表面，得到已加工表面取样区间内N个连续的微观轮廓高度方向的测量数据a_i，所述i=1，2，3，……，N；

步骤2、计算所述测量数据a_i的均值M，并绘制M均值线；

步骤3、大于所述均值M的a_i称为峰值，小于均值M的a_i称为谷值，计算峰值均值Fmean；

步骤4、计算峰值的阈值Fy，所述阈值Fy等于峰值均值Fmean乘以阈值系数Xf，即：Fy=Fmean*Xf，所述阈值系数Xf大于等于1；

步骤5、计算相对系数Sf，Sf等于所有大于Fy的所述a_i的均值的绝对值|a_imean|与峰值均值的绝对值|Fmean|的比值，即Sf=|a_imean|/|Fmean|；

步骤6、计算最大的峰值点到M均值线的距离Dfmax，最小的峰值点到M均值线的距离Dfmin；

步骤7、计算最小的谷值点到M均值线的距离Dgmax，最大的谷值点到M均值线的距离Dgmin；

步骤8、计算最值系数Sfg，所述最值系数Sfg等于Dfmax与Dgmax之和与Dfmin与Dgmin之和的比值，即Sfg=（Dfmax+Dgmax）/（Dfmin+Dgmin）；

步骤9、根据所述相对系数Sf与最值系数Sfg的值的大小，判断工件表面微观形貌的均匀性，Sf或者Sfg的值越接近于1则表示已加工表面微观几何形貌越均匀，Sf或者Sfg的值越大，则表示已加工表面微观几何形貌越不均匀。