[发明专利]一种大豆豆粒表型检测装置及方法在审

专利信息
申请号: 201810982026.9 申请日: 2018-08-27
公开(公告)号: CN108872028A 公开(公告)日: 2018-11-23
发明(设计)人: 袁晓辉;李东野 申请(专利权)人: 武汉古奥基因科技有限公司
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/08
代理公司: 武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242 代理人: 廉海涛
地址: 430000 湖北省武汉市东湖新技术开*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 豆粒 表型检测 大豆豆粒 真空袋 真空机 量筒 图像识别装置 不直接接触 自动化手段 测量装置 称重装置 记录数据 批量检测 人工成本 数量检测 图像识别 机械臂 置料盘 检测 工作台 表型 变形 存储 变质 研究
【说明书】:

发明涉及一种大豆豆粒表型检测装置及方法,包括工作台、至少一个置料盘、图像识别装置、至少一个真空袋、真空机、量筒、称重装置和机械臂,利用自动化手段检测、记录数据,可以减少人工成本、提高检测效率,可进行批量检测;通过多种测量装置和手段,可以获取更加丰富且准确的表型信息;通过设置真空袋和真空机,使得豆粒不直接接触水,防止豆粒变形、变质,便于后续的存储和研究;使用图像识别的方式进行豆粒的数量检测,对豆粒体积无要求,实用性较高。

技术领域

本发明涉及作物育种研究领域,尤其涉及一种大豆豆粒表型检测装置及方法。

背景技术

对作物表型的测量已经引起越来越多的重视,尤其是作为重点研究对象的大豆需要更为丰富、全面、精确的表型数据进行深入研究,而目前的表型检测方法逐渐无法满足这些方面的需求。目前的豆粒检测方法存在一些缺陷:

1.测量过程中豆粒直接接触水,易造成豆粒发胀、腐烂等豆粒损伤情况;

2.对体积过小的豆粒,无法检测或获取全面的信息;

3.检测过程中需要人为操作的环节过多,人工成本与时间成本高;

4.检测、记录环节容易被干扰,影响结果数据的准确性。

发明内容

本发明针对现有技术中存在的技术问题,提供一种工作效率高,且防止豆粒直接接触水导致豆粒腐坏的大豆豆粒表型检测装置及方法。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种大豆豆粒表型检测装置,包括:

工作台,

至少一个置料盘,所述置料盘设置在所述工作台上;

图像识别装置,所述图像识别装置配置为获取所述置料盘中的大豆图像并从获取的图像分析以识别大豆数量和颜色;

至少一个真空袋,所述真空袋用于封装待检测的大豆;

真空机,所述真空机用于抽出真空袋内的气体,并完成封口;

量筒,所述量筒用于测量塑封后的真空袋中大豆体积。

进一步的,所述检测装置还包括:

机械臂,所述机械臂上配置有吸头,所述吸头用于将所述置料盘中的大豆转移到所述真空袋中。

优选的,所述图像识别装置设置在所述机械臂上。

进一步的,所述检测装置还包括称重装置,所述称重装置用于测量每个真空袋中的大豆重量。

所述检测装置还包括:上料振动盘,用于将待检测的大豆运送至所述置料盘中,使得待检测的大豆在所述置料盘中均匀平铺。

进一步的,所述真空机的下方设置有伸缩机构,所述伸缩机构顶端设置有支撑圆筒,所述支撑圆筒上套装所述真空袋。

优选的,所述真空袋为长条型,开口端的尺寸L满足1d<L<2d,其中d为大豆平均直径;所述真空袋的一侧设有标尺,所述标尺用于标注每个真空袋中存放豆粒的最大高度。

同时,本发明还涉及一种大豆豆粒表型检测方法,包括以下步骤:

S1将待测大豆放入上料振动盘中,并将上料振动盘的出口对准置料盘,使得待测大豆在置料盘中均匀分布一层;

S2通过图像识别技术识别置料盘中大豆的豆粒数量N和颜色C,并记录;

S3将置料盘中的大豆转移至真空袋中,并将真空袋内空气排空,使得保鲜膜与大豆之间没有气体;

S4将封装后的真空袋放置于量筒中获得真空袋内大豆体积V,并记录;

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