[发明专利]触摸屏触点的检测方法及相应的触摸屏检测控制电路在审
| 申请号: | 201810978554.7 | 申请日: | 2018-08-27 |
| 公开(公告)号: | CN109032439A | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
| 发明(设计)人: | 吕超英;顾晓红;顾宇飞;赵海;赵健;华纯;华晶;刘欣洁;徐佰新;凌春丽 | 申请(专利权)人: | 无锡华润矽科微电子有限公司 |
| 主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
| 代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 王洁 |
| 地址: | 214135 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 触摸屏 检测 触摸屏检测 控制电路 触点 触点位置 区域块 触摸 分层检测 检测区域 接收通道 节约设备 逐渐缩小 灵活的 排查 节约 | ||
1.一种触摸屏触点的检测方法,其特征在于,所述的检测方法包括对所述的触摸屏进行分层检测,逐渐缩小检测范围,确定所述的触摸屏中被触摸的触点位置。
2.根据权利要求1所述的触摸屏触点的检测方法,其特征在于,所述的对所述的触摸屏进行分层检测,逐渐缩小检测范围,确定所述的触摸屏中被触摸的触点位置包括以下步骤:
(1)将待检测的触摸屏分为多个区域块;
(2)分别对多个所述的区域块进行检测,排除多个区域块中没有被触摸的区域块,其中,将对多个所述的区域块进行的检测作为一层的检测,并将没有被触摸的数个区域块均分别定义为未被触摸区域块,而将被触摸的数个区域块均分别定义为被触摸区域块,完成这一层的检测;
(3)对经过上一层检测后得到的数个所述的被触摸区域块继续进行检测,
分别对每一个所述的被触摸区域块均进行进一步划分,分为多个区域块,返回上述步骤(2),直至所述的被触摸区域块中仅包含了一个互电容,完成检测。
3.根据权利要求2所述的触摸屏触点的检测方法,其特征在于,对多个所述的区域块进行检测,排除多个区域块中没有被触摸的区域块,包括以下步骤:
(a1)对每一所述的区域块进行采样,获得该区域块的采样值;
(a2)将所述的采样值与该区域块未被触摸时的采样阈值进行对比;
(a3)若所述的采样值与采样阈值相等,则该区域块为未被触摸区域块;若所述的采样值与采样阈值不相等,则该区域块为被触摸区域块;
(a4)将各个所述的未被触摸区域块排除出后续的检测范围。
4.根据权利要求3所述的触摸屏触点的检测方法,其特征在于,所述的对每一所述的区域块进行采样,获得该区域块的采样值为通过中值滤波结合均值滤波的方式对所述的区域块进行采样。
5.根据权利要求4所述的触摸屏触点的检测方法,其特征在于,所述的通过中值滤波结合均值滤波的方式对所述的区域块进行采样包括以下步骤:
(b1)对所述的区域块进行数据采样,获得当前采样值;
(b2)预设间隔时间后,对所述的区域块进行再一次数据采样,获得当前采样值;
(b3)返回上述步骤(b2),直至采样得到预设数量的当前采样值,完成所述的数据采样并进行后续步骤(b4);
(b4)对预设数量的当前采样值进行求和,得到求和后的采样值;
(b5)将所述的求和后的采样值减去最大采样值和最小采样值得到所述的采样值,其中,所述的最大采样值为所有的当前采样值中最大的采样值,所述的最小采样值为所有的当前采样值中最小的采样值。
6.一种触摸屏检测控制电路,包括驱动通道、接收通道及数个互电容,所述的驱动通道分别与各个所述的互电容的输入端相连,所述的接收通道分别与各个所述的互电容的输出端相连,其中数个所述的互电容以n×m的排列方式排列为矩形阵列,n为所述的矩形阵列中互电容的列数,m为所述的矩形阵列中互电容的行数,其特征在于,所述的电路中包括n+m+(n-1)个开关;
其中,所述的m个开关分别连接于所述的驱动通道与每行互电容的连接处;n个开关分别连接于所述的接收通道与每列所述的互电容的连接处;每两个与接收通道相连接的开关中的不与所述的接收通道相连的一端均通过一开关进行连接。
7.根据权利要求6所述的触摸屏检测控制电路,其特征在于,所述的电路还包括一滤波器,所述的滤波器与所述的接收通道相连接。
8.一种基于权利要求6或7所述的电路的触摸屏触点的检测方法,其特征在于,
将连接于驱动通道与每行互电容的连接处的m个开关均定义为驱动开关,将连接于所述的接收通道与每列所述的互电容的连接处的n个开关均定义为接收开关,将连接于两个与接收通道相连接的开关的(n-1)个开关均定义为并联开关;
所述的方法包括通过对m个所述的驱动开关、n个接收开关以及(n-1)个并联开关进行控制,实现对所述的触摸屏进行分层检测,逐渐缩小检测范围,确定所述的触摸屏中被触摸的触点位置。
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