[发明专利]一种简单的TDOA定位基站选择策略在审
| 申请号: | 201810975084.9 | 申请日: | 2018-08-24 |
| 公开(公告)号: | CN109068344A | 公开(公告)日: | 2018-12-21 |
| 发明(设计)人: | 郑灿健;林建宾;翁凯利;文智力;徐跃福 | 申请(专利权)人: | 深圳市翌日科技有限公司 |
| 主分类号: | H04W24/02 | 分类号: | H04W24/02;H04W64/00;H04W4/021 |
| 代理公司: | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人: | 姜书新 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 定位基站 选择策略 基站资源 业务需求 多基站 基站 搜索 筛选 应用 | ||
本发明提供的一种简单的TDOA定位基站选择策略,采用多次筛选和搜索,最终确定最优的基站来参与定位,解决了在多基站环境下选择最优的定位基站的技术问题,既能实现节省基站资源的效果,又能符合实际应用中多种精度定位的业务需求。
技术领域
本发明涉及基站定位领域,具体而言,涉及一种简单的TDOA定位基站选择策略。
背景技术
TDOA,也即到达时间差定位,是一种利用时间差进行定位的方法。当测量到待测标签到达2个基站的距离差时,便可以构造以2个基站的位置为焦点,待测标签与2个基站间的距离差为焦距的双曲线方程,其中多条双曲线的交点就是待测标签的位置。
TDOA的定位原理,如图1所示,当已知基站BS1和基站BS2与待测标签MS之间的距离差R21=R2-R1时,则待测标签位于以两个基站BS1和BS2为焦点、与两个焦点的距离恒为R21的实线双曲线上。当同时知道基站BS1和基站BS3与待测标签MS 之间的距离差R31=R3-R1时,则待测标签位于以两个基站BS1和BS3为焦点、与两个焦点的距离恒为R31的虚线双曲线上。于是两组双曲线的交点即为待测标签位置的估计。再通过TDOA的典型算法对该双曲线方程进行求解,例如Chan算法和Taylor算法等,便可获得待测标签的位置。因此,通常TDOA普遍用来参与定位的基站个数在3个或3个以上。
由于要实现TDOA定位,至少需要3个基站来参与定位,同时随着参与定位的基站个数的增加,定位的准确度也会相应的提高。然而当增加定位基站的个数到达一定值时,定位的准确度并不会随着基站个数增加而增加,因此在这种情况下再增加定位基站反而会增加基站的能耗,造成资源的浪费。因此,如何通过选择最优的基站来进行定位既不会造成基站资源的浪费,又能符合各种精度定位的需求是TDOA定位中急需解决的问题。
发明内容
本发明提供的一种简单的TDOA定位基站选择策略,采用多次筛选和搜索,最终确定最优的基站来参与定位,解决了在多基站环境下选择最优的定位基站的技术问题,既能实现节省基站资源的效果,又能符合实际应用中多种精度定位的业务需求。
本发明为解决上述技术问题而提供的这种简单的TDOA定位基站选择策略,包括以下步骤:
S1:待测标签向周围发出广播信号,附近基站接受到待测标签广播信号,同时上传服务器;
S2:根据使用者的业务需要确定精度值基站个数m;
S3:服务器搜索指定范围值d内的符合要求的基站个数n;
S4:判断搜索到的所述基站个数n是否满足符合所述精度值基站个数m,如果是则进行s5步骤,如果否则增加指定范围值d的数值,同时进行s3步骤;
S5:判断指定范围值d内的所述基站个数n是否过多,如过多则减小指定范围值d的数值,同时进行s3步骤,如果否则使用搜索到的基站进行TDOA定位。
所述步骤S4中所述符合精度值要求的基站个数m不小于3。
当所述制定范围值d为x时,所述精度值基站个数m小于3,但是所述指定范围值d为x+1时,所述基站个数n远大于所述精度值基站个数m,则对所述指定范围值d从x到x+1区间范围进行划分和搜索,把所述指定范围值d从x到x+1区间范围划分y个区域,从近到远标记为x-1、x-2……x-y,在所述指定范围值d从x到x+1区间范围内进行所述步骤S4。
所述步骤S4中第m个基站与需要定位设备的距离不得大于1000米。
本发明所具有的有益效果:通过选择最优的定位基站既能实现节省基站资源的效果,又能符合实际应用中多种精度定位的业务需求。
附图说明
图1是现有技术中所述TDOA的定位原理。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市翌日科技有限公司,未经深圳市翌日科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810975084.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





