[发明专利]红外光源、红外传感器的光学性能测试方法及装置在审
| 申请号: | 201810973417.4 | 申请日: | 2018-08-24 |
| 公开(公告)号: | CN110894914A | 公开(公告)日: | 2020-03-20 |
| 发明(设计)人: | 刘浩;李亮 | 申请(专利权)人: | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 主分类号: | F21K9/20 | 分类号: | F21K9/20;F21K9/64;F21K9/66;F21K9/69;F21V1/14;F21V5/04;F21V9/00;F21V23/00;F21V23/04;G01D18/00;F21Y115/10 |
| 代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 钭飒飒;黄健 |
| 地址: | 518045 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 红外 光源 红外传感器 光学 性能 测试 方法 装置 | ||
本发明提供一种红外光源、红外传感器的光学性能测试方法及装置,该红外光源,包括:红外LED,用于产生沿一光路径传播的红外光;滤光片,设置在所述红外LED的光路径上,用于滤除所述红外光以外的光;光学透镜,设置在所述红外LED的光路径上,所述红外LED发出的红外光依次经过所述滤光片、所述光学透镜之后,转换为平行的红外光。本发明可以改善红外光源发射红外光的均匀度和平行度,提高红外传感器的光学性能测试结果的准确性。
技术领域
本发明涉及检测技术领域,尤其涉及一种红外光源、红外传感器的光学性能测试方法及装置。
背景技术
红外传感器是一种常见的光学传感器,其能够避免环境光的干扰,因此被广泛地应用在光学测试领域。在红外传感器出厂之前,除了对红外传感器的基本电性能进行测试之外,还需要用均匀度较好的红外光源来测试其光学性能。
目前,一般采用发光二极管(Light Emitting Diode,LED)构成的阵列,以及均光片来制作红外光源。
但是,采用这种方式制作的红外光源,要求LED阵列中的每颗灯珠的发光要一致,并需要精确掌握每颗灯珠的光发射角度以及光路叠加效果,其制作难度大,LED阵列容易产生组合漫射光,使得红外光源的均匀度和平行度不佳。
发明内容
本发明提供一种红外光源、红外传感器的光学性能测试方法及装置,以改善红外光源发射红外光的均匀度和平行度,提高红外传感器的光学性能测试结果的准确性。
第一方面,本发明实施例提供一种红外光源,包括:
红外LED,用于产生沿一光路径传播的红外光;
滤光片,设置在所述红外LED的光路径上,用于滤除所述红外光以外的光;
光学透镜,设置在所述红外LED的光路径上,所述红外LED发出的红外光依次经过所述滤光片、所述光学透镜之后,转换为平行的红外光。
可选地,还包括:遮光罩;所述遮光罩的两端设置有开口结构,所述遮光罩的一端开口与所述红外LED连接,以使所述红外LED产生的红外光在所述遮光罩内传播,所述遮光罩的另一端开口位置处安装有所述光学透镜,以使得所述遮光罩内传播的红外光经过所述光学透镜之后,转换为平行的红外光;所述滤光片位于所述遮光罩内,并位于所述红外LED与所述光学透镜之间。
可选地,所述通孔位于所述光学透镜的焦点位置上。
可选地,所述遮光罩的形状包括:圆锥形,或者圆柱形。
可选地,所述遮光罩的内壁上设置有吸光涂层。
可选地,所述滤光片为窄带滤光片,所述窄带滤光片的中心波长与所述红外LED的红外波长一致。
可选地,还包括:与所述红外LED电连接的驱动电路,所述驱动电路用于调节所述红外LED的红外光辐射强度。
可选地,所述红外LED为单一的LED灯。
第二方面,本发明实施例提供一种红外传感器芯片的测试光源,包括:如第一方面中任一项所述的红外光源、针卡板,所述针卡板上设置有1个或1个以上的通光口;所述红外光源安装在所述针卡板上,构成红外传感器芯片的测试光源。
第三方面,本发明实施例提供一种红外传感器的光学性能测试方法,应用如第一方面中任一项所述的红外光源对红外传感器进行光学性能测试,所述方法包括:
测试平台将所述红外光源发出的红外光对准红外传感器的感应区;
数据采集器获取在不同辐射强度的红外光下,所述红外传感器的感应数据;
处理器将所述感应数据的变化量在预设的阈值范围内的红外传感器,作为合格的红外传感器。
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