[发明专利]微带器件测试夹具

说明书

本发明公开了一种微带器件测试夹具，包括基板（1）、支架（2）和测试模块（3），其中，所述支架（2）位于基板（1）上，所述测试模块（3）位于支架（2）上；所述测试模块（3）包括腔体（6）、弹性簧片（7）、下顶片（8）、手柄（9）、限位板（10）、测试连接器（11）和测试插针（12）；本发明可以有效解决传统微带测试夹具插针易损、接地不良和生产效率低下的问题，本发明的使用频率DC～60GHz，而传统微带测试夹具使用频率DC～20GHz，大大延展了微带器件的测试频率，本发明的测试效率为≤1.2分钟/只，而传统微带测试夹具测试效率为≥10分钟/只，大大提升了测试效率，并且提升了微带器件测试夹具测试的准确性。

技术领域

本发明涉及微波元器件测试领域，尤其涉及一种微带器件测试夹具。

背景技术

微带器件凭借小型化、高性能的优势，广泛应用在现代无线通信、雷达、电子对抗等电子系统中。微带器件的测试作为研发和生产环节的重要工序和关键技术，长久以来微带器件的测试一直是困扰器件大批量生产的瓶颈。

具体而言，长期以来，传统的微带器件的测量没有形成一个高效通用的测量技术，现有的测试方法只能使用于低频率（DC～20GH在）的器件，现有的微带器件测试夹具结构如图1所示，包括托块13和测试插针12，被测试件4位于托块13和测试插针12之间，测试插针12为两个，其在托块13的上方左右两端对称分布。这样的测试夹具，存在以下缺点：

（1）测试插针12易受损伤：因为托块13每次向上施加的力量不一样，测试的结果会不同，测试插针12也更容易损伤；

（2）频率受限：这种结构由于接地不良，该测试夹具仅适用于20GHz以下的频率，在更高频率的测试中，会带来不可接受的误差；对于高频微带器件的测量，甚至需要通过焊接同轴连接器的方式对其进行测量；

（3）生产效率低下：因为测试结果的不准确性，导致测试工作重复，生产效率低下。

即，现有的测试夹具，测试效率不高、高频器件无法准确测试是微带器件测试面临的主要问题，某些高频率微带产品为了获取其性能指标往往需要对产品进行焊接后，再进行测试，这样不仅损坏产品，而且成本昂贵，效率低下，也不适用于生产。

发明内容

本发明的目的就在于提供一种新型的微带器件测试夹具，以解决上述问题。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是这样的：一种微带器件测试夹具，包括基板、支架和测试模块，其中，所述支架位于基板上，所述测试模块位于支架上；所述测试模块包括腔体、弹性簧片、下顶片、手柄、限位板、测试连接器和测试插针，所述弹性簧片位于腔体内上方，所述下顶片与腔体贴合，下顶片与手柄相连，所述限位板位于腔体顶部，所述测试插针位于下顶片与限位板之间，所述测试连接器）位于腔体上方可以与仪器连接。

测试模块的本测试夹具的核心部件，其中，

腔体：作为测试模块的结构框架；

弹性簧片：通过弹性簧片可以将下顶片紧密地贴合在腔体的表面上；

下顶片：在弹力的作用下，始终保持向上的状态和力量，并可以与限位板贴合，也是保证被测件接地良好的关键件；

手柄：通过向手柄可以将下顶片向下移动，将下顶片和限位板分离；

限位板；是下顶片向上移动的限位板，也是测试插针变形量的限位板；

测试连接器：通过该测试连接器可以和测试仪器相连；

测试插针：与被测件输入端口和输出端口连接的中心导体。

作为优选的技术方案：所述微带器件测试夹具还包括脚垫，所述脚垫位于基板底部。设置脚垫方便固定测试夹具。