[发明专利]一种地籍测量方法在审
申请号: | 201810964189.4 | 申请日: | 2018-08-23 |
公开(公告)号: | CN109061670A | 公开(公告)日: | 2018-12-21 |
发明(设计)人: | 何伟;赵路;李早玲;贺成成;曹雪美;周强;沈磊;台磊 | 申请(专利权)人: | 上海华测导航技术股份有限公司 |
主分类号: | G01S17/88 | 分类号: | G01S17/88;G01C15/00 |
代理公司: | 上海宣宜专利代理事务所(普通合伙) 31288 | 代理人: | 刘君 |
地址: | 201702 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 采集 中误差 测量 数据预处理模块 惯性测量单元 激光雷达系统 数据完整性 数据预处理 采集区域 精度验证 静态数据 模块检测 数据采集 数据解算 数据转换 天气气候 外业测量 现场采集 原始激光 作业效率 多平台 激光点 通过点 基站 解算 内业 高程 去除 遗漏 融合 转换 检测 检查 保证 生产 | ||
本发明提供了一种地籍测量方法,包括以下步骤:步骤(1):基于多平台激光雷达系统由测区外驶入测区内或飞至测区上空,按照项目前期勘察设计好的采集路线进行数据采集,采集完成后检查采集路线与采集区域是否完整,如有遗漏则需及时补测,以保证数据完整性;步骤(2):基于数据解算模块对基站静态数据进行转换和POS数据进行融合解算;步骤(3):通过点云数据预处理模块将原始激光数据转换成WGS84坐标系下的las格式的激光点云,并通过精度验证模块检测高程中误差和检测平面中误差;步骤(4):对现场采集数据中的惯性测量单元数据进行数据预处理,去除误差,本发明可以.减少了外业测量人员数量,降低了实施成本,以及对天气气候依赖小,采集效率高,主要工作时间转为内业生产,而且作业效率提升7—10倍以上。
技术领域
本发明涉及地籍测量领域,具体涉及到一种地籍测量方法。
背景技术
地籍测量是服务于地籍管理的一种专业测量,它是为了满足地籍管理中确定宗地的权属线、位置、形状、数量等地籍要素的需要而进行的测量和面积计算工作。地籍测量精度要求高,内外业工作量大,传统方法是运用RTK与全站仪进行野外作业,而面对房屋建筑较为密集,周围树木丛生的测量环境,传统测绘手段无法快速准确地获取数据,传统地籍测量存在的问题:1.需要大量的熟练外业测量人员,实施成本高;2.地籍测量区域环境恶劣复杂,增加了实施难度与成本;3.对天气环境依赖程度高。
发明内容
为了解决上述不足的缺陷,本发明提供了一种地籍测量方法,本发明可以.减少了外业测量人员数量,降低了实施成本,以及对天气气候依赖小,采集效率高,主要工作时间转为内业生产,而且作业效率提升7—10倍以上。
本发明提供了一种地籍测量方法,包括以下步骤:
步骤(1):基于多平台激光雷达系统由测区外驶入测区内或飞至测区上空,按照项目前期勘察设计好的采集路线进行数据采集,采集完成后检查采集路线与采集区域是否完整,如有遗漏则需及时补测,以保证数据完整性;
步骤(2):基于数据解算模块对基站静态数据进行转换和POS数据进行融合解算;
步骤(3):通过点云数据预处理模块将原始激光数据转换成WGS84坐标系下的las格式的激光点云,并通过精度验证模块检测高程中误差和检测平面中误差;
步骤(4):对现场采集数据中的惯性测量单元数据进行数据预处理,去除误差。
上述的地籍测量方法,其中,所述步骤(3),具体包括:通过测一些地面高程点的方式,带入到点云或者图纸中检查高程精度;所述精度验证模块检测平面中误差,采用全站仪的方式。
上述的地籍测量方法,其中,所述步骤(4)具体包括:采用时序建模与卡尔曼滤波相结合方法去除惯性测量单元数据误差。
上述的地籍测量方法,其中,通过使用AS—300多平台激光雷达系统,在实际的检测误差中,平面采集了12个点,高程采集了9个点。
上述的地籍测量方法,其中,还包括修补测区域模块,所述修补测区域模块通过全站仪进行补测或卷尺测量后反映在草图上作为补充。
上述的地籍测量方法,其中,通过观察外业草图初期设计作业路线,然后实地踏勘踩点,根据实际完善方案,再根据实际情况规划控制点。
上述的地籍测量方法,其中,通过GPS静态测量获取控制点坐标,再根据控制点的信息,对控制点上的多平台激光雷达系统扫描站点进行绝对坐标的配准:以及根据控制点坐标信息,对控制点上架设的激光雷达扫描站点进行绝对坐标的配准;然后使用手动拼接操作,配合ICP自动拼接技术对各扫描点进行拼接处理,得到覆盖整个区域的点云数据,然后将预处理后的点云数据去除噪点并进行分割处理,将对后期处理形成遮挡影响的树木等地物进行剔除;最后再根据处理后得到的点云数据,绘制高精度的地籍图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华测导航技术股份有限公司,未经上海华测导航技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810964189.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。