[发明专利]用于清洁测量探头的探针的设备

说明书

本发明涉及一种用于清洁测量探头(2)的探针(1)的设备，所述设备包括：清洁室(4)，其用于在清洁处理期间容纳所述探针(1)，所述清洁室(4)包括开口(5)，所述开口用于将所述探针(1)引入所述清洁室(4)中、以及从所述清洁室中移除所述探针；供给装置(7)，其用于将诸如清洁液体或气雾剂的清洁剂和/或诸如空气的干燥剂供给到用于清洁和/或干燥所述探针(1)的所述清洁室(4)中。本发明还涉及这种设备和测量机的组件。

本申请为申请号201480060322.3、申请日2014年10月29日的名为“用于清洁测量探头的探针的设备”的专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种用于清洁测量探头的探针的设备。

背景技术

为了测量物体而会使用测量机，该测量机包括具有探针的测量探头。测量设备可以是任意类型的测量设备，例如3D测量设备。尤其，该测量设备可以是处理机的用于测量处理机的工具的部分。如果测量探头的探针被污染，例如如果灰尘或其他颗粒附着到测量探头的探针上，则测量可能不会被精确地进行。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于清洁测量探头的探针的设备。尤其，本发明的目的在于提供一种用于在测量处理期间清洁所述探针的设备。

通过根据前序部分所述的设备来实现该目的，所述设备包括：

-清洁室，其用于在清洁处理期间容纳所述探针，所述清洁室包括开口，所述开口用于将所述探针引入所述清洁室中、以及用于从所述清洁室中移除所述探针；以及

-供给装置，其用于将诸如清洁液体或气雾剂的清洁剂和/或诸如空气的干燥剂供给到用于清洁和/或干燥所述探针的所述清洁室中。

根据本发明的所述设备提供清洁室，在所述清洁室中，可以经由所述开口引入所述探针。在将所述探针引入所述清洁室中之后，优选首先将清洁剂供给到所述清洁室以清洁所述探针，并且优选其次将干燥剂供给到所述清洁室以干燥所述探针。在清洁和/或干燥所述探针之后，可以经由所述开口从所述清洁室中移除所述探针，并且可以继续或开始测量处理。

在根据本发明的设备的实施例中，所述供给装置包括向所述清洁室中排放的至少一个供给开口或喷嘴，以将所述清洁剂和/或所述干燥剂供给到所述清洁室中。

供给开口或喷嘴的优点在于，可以沿探针的方向喷射或吹送所述清洁剂和/或所述干燥剂。

在根据本发明的设备的优选实施例中，所述供给装置包括至少三个所述供给开口或喷嘴。

多个供给开口或喷嘴、尤其是三个或更多个供给开口或喷嘴的优点在于，可以沿所述探针的方向从清洁室中的不同位置喷射或吹送所述清洁剂和/或所述干燥剂，使得可以清洁和/或干燥所述探针的整个外表面。应当指出，所述供给装置可以包括任意数量的供给开口或喷嘴，例如三个、四个、五个、六个、七个、八个、九个、十个、甚至更多个供给开口或喷嘴，使得从多个方向对探针进行喷射或吹送。

优选地，所述供给开口或喷嘴以基本相等的角距离间隔开，并且被布置为将所述清洁剂和/或所述干燥剂供给到一公共位置，所述探针在清洁和/或干燥期间可以位于该公共位置。

探针是非常灵敏的测量工具。向探针供给清洁剂和/或干燥剂，会使探针记录受所述清洁剂和/或所述干燥剂影响的不正确的测量数据，因此该测量数据未代表在清洁探针之前和之后正在测量的物体。如果所述探针保持在所述公共位置并且从等间距间隔的供给开口或喷嘴接收所述清洁剂和/或所述干燥剂，则清洁剂和/或干燥剂的不同气流将会相抵消，或者在公共位置处于均衡，使得所述探针将不受清洁剂和/或干燥剂的影响，并且将不会记录不正确的测量数据。根据本发明的设备的这种实施例具有如下优点：无需在清洁探针期间停止测量处理，因为清洁探针将不会影响测量处理。

沿所述清洁室的纵向观察，所述多个供给开口或喷嘴优选布置在相同高度或位置。