[发明专利]一种光子筛像差分析方法在审
| 申请号: | 201810961551.2 | 申请日: | 2018-08-22 |
| 公开(公告)号: | CN109031684A | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
| 发明(设计)人: | 成雪清;周鹏云;陈雅丽;唐霞梅;方艾黎;梁军;潘科;谭依玲 | 申请(专利权)人: | 西南化工研究设计院有限公司 |
| 主分类号: | G02B27/42 | 分类号: | G02B27/42;G02B27/00 |
| 代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 郭彩红 |
| 地址: | 610225 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光子筛 点扩散函数 光瞳 波像差 像差 光学系统 数学关系 评估指标 折射透镜 畸变 推导 场曲 慧差 球差 象散 衍射 分析 | ||
1.一种光子筛像差分析方法,从光子筛光瞳面相位和点扩散函数的数学关系出发,建立光子筛衍射模型,计算光子筛的点扩散函数;根据光子筛的点扩散函数逆推出光子筛光瞳面的相位,即光瞳面相位就是光子筛的等效波像差。
2.根据权利要求1所述的光子筛像差分析方法,所述方法还包括,将光瞳面相位用Zernike多项式拟合,求出分项像差和总像差。
3.根据权利要求2所述的光子筛像差分析方法,建立光子筛衍射模型,计算光子筛的点扩散函数的具体方法包括,
在光子筛中心建立坐标系xyz,光轴方向为z轴方向,像平面坐标为(X,Y,Z),入射点光源距离光子筛距离为p,入射包场为λ;
光子筛单个小孔(xn,yn)在像空间点P(X,Y,Z)上的衍射广场为Un,小孔大小为rn,则有,
X′=X-xn;Y′=Y-yn;x′=x-xn;y′=y-yn;进行极坐标代换x′=r′cosθ,y′=r′sinθ,X″=ρcosφ,Y″=ρsinφ;
计算单个点光源在光子筛像平面的点扩散函数
其中,Jinc(x)=J1(x)/x,J1为1阶贝塞尔函数,
整个光子筛在像平面光场分布为U(X,Y),则有
其中,m为光子筛上所有小孔的数目;n为大于等于1小于等于m的自然数;r′和ρ是极坐标的模;θ和φ是极坐标的角度;
4.根据权利要求3所述的光子筛像差分析方法,根据光子筛的点扩散函数逆推出光子筛光瞳面的相位的方法包括,
建立光子筛等效衍射模型,其中,光子筛设计焦距为f,口径为D=2r,:
得到初始的光子筛等效光瞳函数P0:
将P0代入到下式
其中F为傅里叶变换;
得到焦平面的复振幅分布ASF,提取ASF的相位φ1,将P0φ2作为新的光瞳函数P′,进入下一轮迭代,即
采用点扩撒函数的最小二乘误差作为评价函数即设定设定值ε,当时迭代技术RMS≤ε,提取光瞳函数P的相位W(x,y),得到
W(x,y)=arctan(P(x,y))
其中,abs为求取摸的运算,P*是P的共轭函数;PSF是光子筛点扩散函数,PSF=U(x,y)。
5.根据权利要求4所述的光子筛像差分析方法,将光瞳面相位用Zernike多项式拟合,求出分项像差和总像差的具体方法包括,
将W(xi,yi)进行极坐标化W(ρi,θi),并用37项Zrenike多项式表示:
其中,ak是Zernike系数,Ek(xi,yi)是Zernike多项式,k是指第几项,为大于等于1小于等于37的自然数,i是指某个离散点,为大于等于1小于等于m的自然数,对于m个离散点,具有以下方程组
用矩阵表示为
可简化为W=EA,其中,W是波像差矩阵,E是Zernike多项式矩阵,A是矩阵系数,左乘ET,得到ETW=ETEA;根据广义逆矩阵理论,系数矩阵A为A=(ETE)-1ETW,即为Eernike多项式系数矩阵[a1,a2…,a37];
建立Zernike多项式和结合像差的对应关系;Fringe Zernike多项式根据角度的对称性,划分为五类像差,并与传统的几何像差一一对应:
其中,RMSE5-E37是总的波像差,已经去除前四项离焦和面倾斜,RMSspherical是球差,RMScoma是慧差,RMSastigmationl是象散,RMS3-foil是三叶像差,RMS4-foil是四叶像差。
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