[发明专利]液晶面板的跨线静电短路缺陷的检测电路及其检测方法

说明书

本发明公开了一种液晶面板的跨线静电短路缺陷的检测电路，包括：第一信号电路，包括多个第一信号输入端和多条第一信号线；第一检测电路，包括多个第一检测端和多条第一检测线；第二信号电路，包括多个第二信号输入端和多条第二信号线；其中，第二液晶面板和第一液晶面板的尺寸不同；第二检测电路，包括多个第二检测端和多条第二检测线；第一检测电路还包括第三检测端，第三检测端通过第三检测线连接到所述第二检测线。本发明还公开了一种上述的检测电路的检测方法。本发明的液晶面板的跨线静电缺陷的检测电路及其检测方法可在对液晶面板的线路检测时检测出跨线静电短路缺陷，及时拦截有缺陷的产品，避免缺陷产品流入下道工序造成的成本浪费。

技术领域

本发明属于液晶显示技术领域，具体地，涉及一种液晶面板的跨线静电短路缺陷的检测电路及其检测方法。

背景技术

MMG(Mutil-Moudel Glass，多模型的玻璃)套切技术是将大小不同的两种液晶面板混合设计在同一玻璃基板上，这种技术大大提高了玻璃基板的利用率。例如G8.5代线，43寸液晶面板的切割利用率仅有75％；而将43寸与22寸液晶面板进行混合的切割利用率高达97％。

但是MMG模式的产品(如2243寸)的Curing走线(配向走线)一般为单侧布线，外围不同尺寸的液晶面板的布线跨线密度较大，导致制程容易产生ESD(Electro-Staticdischarge，静电释放)，对线路造成损坏，影响良率。邻近的走线在跨线部位极易产生静电释放，造成跨线部位的上下两层金属线路发生短路。而在液晶面板的生产过程中，通过ATSTEST(自动测试)工序对液晶面板的线路进行检测，但ATS TEST检测只能分别对不同尺寸的液晶面板，如分别对22寸液晶面板、43寸液晶面板的线路进行检测，这样43寸液晶面板的线路与22寸液晶面板的线路的跨线处静电短路缺陷无法检测，导致具有跨线静电短路缺陷的产品漏放到下道工序，造成成本浪费，也增加后续分析缺陷的难度。

因此，在进行ATS TEST检测时如何将跨线静电短路缺陷检测出来是业内需要解决的问题。

发明内容

为解决上述现有技术存在的问题，本发明提供了一种可有效检测出跨线静电短路缺陷的液晶面板的跨线静电短路缺陷的检测电路及其检测方法。

为了达到上述发明目的，本发明采用了如下的技术方案：

根据本发明的一方面，提供了一种液晶面板的跨线静电短路缺陷的检测电路，所述检测电路包括：

第一信号电路，包括多个第一信号输入端和多条第一信号线，所述多个第一信号输入端通过多条第一信号线连接到形成在基板上的第一液晶面板上；

第一检测电路，包括多个第一检测端和多条第一检测线，所述多个第一检测端通过多条第一检测线连接到所述多条第一信号线；

第二信号电路，包括多个第二信号输入端和多条第二信号线，所述多个第二信号输入端通过多条第二信号线连接到形成在所述基板上的第二液晶面板上；其中，所述第二液晶面板和所述第一液晶面板的尺寸不同；

第二检测电路，包括多个第二检测端和多条第二检测线，所述多个第二检测端通过多条第二检测线连接到所述多条第二信号线，每条第二检测线与所述多条第一信号线交叉设置；

所述第一检测电路还包括第三检测端，所述第三检测端通过第三检测线连接到所述第二检测线，所述第三检测线与所述第二检测线的连接处位于所述多个第二检测端和所述多条第一信号线之间；

其中，所述第三检测端用于向所述第三检测线施加第一检测电压，所述第一信号输入端用于向所述第一信号线施加与所述第一检测电压不同的第二检测电压，所述第一检测端用于检测所述第一信号线上的反馈电压是否在预设正常电压范围内。

进一步地，所述第三检测端通过所述第三检测线连接到与所述第一信号线和所述第二信号线交叉最多的第二检测线。