[发明专利]一种P型半导体石墨烯的制备方法有效
申请号: | 201810957102.0 | 申请日: | 2018-08-22 |
公开(公告)号: | CN108975319B | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 陈木成 | 申请(专利权)人: | 恒力(厦门)石墨烯科技产业集团有限公司 |
主分类号: | C01B32/186 | 分类号: | C01B32/186 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361003 福建省厦门市中国(福建)自由贸*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 石墨 制备 方法 | ||
1.一种P型半导体石墨烯的制备方法,其特征在于,所述的P型半导体石墨烯的制备方法由以下步骤组成:S01:将清洗干净并烘干过的特定基底放在反应台面上,然后抽真空,并通入氩气保护气体;S02:激发微波调节微波发射器至第一反应功率,并升温至第一反应温度,调节反应腔体压强,依次通入H2和CH4,控制H2和CH4的气流量,反应0.1-20min,形成部分石墨烯薄膜;S03:通入混合有一定体积浓度硼源气体和H2的混合气体,调节混合气体总流速,并控制反应温度至第二反应温度,调节微波发射功率至第二反应功率,反应0.5-30min,即可获得掺杂硼的P型半导体石墨烯;S04:依次关闭CH4和H2,微波发射器,继续通入氩气,并在一定的退火温度下降温,降温时间为10min-300min,然后自然冷却,直至反应舱室降到室温为止,即可取出;
所述的基底是铜箔、镍箔、金箔、铝箔、钛箔、硅片、二氧化硅片、PET膜、ITO膜、金刚石膜中的任何一种;
所述的抽真空,真空度为0.001Pa-10Pa;
所述的氩气保护气体的气流量为1cm3/min-200cm3/min;
所述的CH4气流量为1cm3/min-400cm3/min,H2气流量为1cm3/min-400cm3/min;
所述的CH4和H2的体积比为1∶0.01-500;
所述的激发微波调节微波发射器至第一反应功率为0.1-5Kw;
所述的升温至第一反应温度为200-800℃;
所述的反应腔体压强为0.01-1000Pa;
所述的硼源为辛硼烷和乙硼烷气体中的任何一种;所述的硼源气体和H2的混合气体中硼源气体和氢气的体积比为1∶0.1-10,混合气体的气流量为1cm3/min-200cm3/min;所述的第二反应温度为300-1100℃;所述的第二反应功率为1-10Kw;所述的退火温度为100-400℃。
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