[发明专利]一种折射率逐渐减小的四层圆锥形场局域增强器件有效
| 申请号: | 201810952864.1 | 申请日: | 2018-08-20 |
| 公开(公告)号: | CN109031485B | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
| 发明(设计)人: | 李康;许吉;时楠楠;朱玉坤;朱文武;胡思敏;舒倩;陆云清 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学 |
| 主分类号: | G02B5/00 | 分类号: | G02B5/00 |
| 代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 姚姣阳 |
| 地址: | 210023 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 折射率 逐渐 减小 圆锥形 局域 增强 器件 | ||
1.一种折射率逐渐减小的四层圆锥形场局域增强器件,其特征在于:该场局域增强器件包括四层结构,即第一层结构、第二层结构、第三层结构和第四层结构,所述第一层结构、第二层结构、第三层结构和第四层结构是由内向外逐层构成一个同轴圆锥形结构;所述第一层结构为高折射率介质层,所述高折射率介质层的折射率为n1;
所述场局域增强器件为柱对称锥形结构,所述高折射率介质层圆锥的锥面上均匀地覆盖了一层厚度为h1的低折射率介质层,所述h1为50nm;所述低折射率介质层圆锥的锥面上均匀地覆盖了一层厚度为h2的更低折射率的低折射率介质层,所述h2为50nm;所述更低折射率的低折射率介质层圆锥的锥面上均匀地覆盖了一层厚度为h3的贵金属层,所述h3为45nm,整个介质圆锥底面半径为R1+h2secθ+h3 secθ,R1为第二层圆锥底半径大小,所述R1为1000nm,圆锥半锥角为θ,所述圆锥半锥角θ为15°;
所述场局域增强器件内高折射率介质层圆锥的顶部曲率半径为R2,所述R2为35nm;覆盖其上的低折射率介质层圆锥顶部曲率半径为R3,所述R3为35nm;覆盖其上的更低折射率的低折射率介质层圆锥顶部曲率半径为R4,所述R4为5nm;涂覆在最外层的金属层的顶点处曲率半径为R5,所述R5为5nm。
2.根据权利要求1所述的一种折射率逐渐减小的四层圆锥形场局域增强器件,其特征在于:所述第二层结构为低折射率介质层,所述低折射率介质层的折射率为n2。
3.根据权利要求1所述的一种折射率逐渐减小的四层圆锥形场局域增强器件,其特征在于:所述第三层结构为更低折射率的低折射率介质层,所述第三层结构的折射率为n3。
4.根据权利要求1或2或3所述的一种折射率逐渐减小的四层圆锥形场局域增强器件,其特征在于:所述第一层结构、第二层结构、第三层结构的介质层的折射率是逐渐减小的,即n1n2n3,高折射率介质的折射率n1为3.455,低折射率介质的折射率n2为1.445,更低折射率的低折射率介质的折射率n3为1.224。
5.根据权利要求1所述的一种折射率逐渐减小的四层圆锥形场局域增强器件,其特征在于:所述第四层结构为贵金属层,其中所述贵金属为金或银。
6.根据权利要求1所述的一种折射率逐渐减小的四层圆锥形场局域增强器件,其特征在于:在可见光至近红外波段,该场局域增强器件在径向偏振光或线偏振光的偏振模式下从锥底以R1为半径的圆锥底垂直入射进入,在尖端区域产生很强的电场增强效应,在圆锥结构顶点处电场局域增强倍数达到最大,所述电场最大值为1824倍。
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