[发明专利]实时监测光模块工作状态老化过程的方法

权利要求书

1.一种实时监控光模块工作状态老化过程的方法，具有如下技术特征：将接口电路，微处理器，模拟开关和提供工作电源的电源电路设置在光模块老化测试板上，接口电路至少并联两路微处理器，微处理器1、微处理器2通过对应串联的模拟开关1、模拟开关2分别并联n路光模块的信息读取接口；微处理器通过模拟开关电路连通指定的光模块通讯总线，采集被测光模块的数据，接口电路将I2C通信转换成微处理器的USB通信，将监控到的光模块老化信息传递给微处理器内置自动监测软件，自动监测软件对所有光模块老化测试板上光模块的工作状态进行实时在线监测、诊断，测试被测光模块每时每刻工作状态、工作温度、供电电压和激光偏置电流的工作性能参数，自动获取眼图和测试灵敏度信息，掌握各光模块老化程度，实施故障诊断服务，汇总、查询、追溯获取光模块的参数信息，找出链路中故障出现的位置。

2.如权利要求1所述的实时监测光模块工作状态老化过程的方法，其特征在于：电源电路提供老化测试板的所有部件工作电源，接口电路将连接老化测试板和上位机，微处理器负责所有光模块的数据采集和处理，模拟开关电路负责连通指定的光模块通讯总线。

3.如权利要求1所述的实时监测光模块工作状态老化过程的方法，其特征在于：微处理器通过模拟开关电路控制模拟开关的工作模式，选择光模块之间进行数据通信需要采集数据的光模块，实时监测其被测光收发模块收发信号参数信息，获取光模块参数信息。

4.如权利要求1所述的实时监测光模块工作状态老化过程的方法，其特征在于：接口电路通过12C通信接口串联模拟开关1、模拟开关2，通过2线串行总线对SFP光模块进行访问，读写光模块的电子抹除式可复写只读存储器EEPROM的数据信息。

5.如权利要求1所述的实时监测光模块工作状态老化过程的方法，其特征在于：微处理器实时采集来自模拟开关1、模拟开关2获取光模块内部工作电压，温度，偏置电流，发射和接收光功率的参数信号，分别对这5个模拟量进行标定的校准，得到数字化测量结果，将测量结果保存在寄存器主器件地址A2H的地址串行总线实时诊断接EL96至L19字节地址中。

6.如权利要求5所述的实时监测光模块工作状态老化过程的方法，其特征在于：地址串行总线101000X的AOH处，多源SFPMSA协议的串行D定义有96字节，为0.95的存储单元，包含了基本的ID区和扩展ID区，基本ID区的数据地址从0.63扩展ID区从64.95。

7.如权利要求1所述的实时监测光模块工作状态老化过程的方法，其特征在于：微处理器对于警告/告警标志位及阈值、系统状态和用户自定义标志位，都存储在A2H单元中，通过双线接口12C总线进行访引，此外，也提供各个管脚的状态镜像和用户可写入的存储区域。

8.如权利要求1所述的实时监测光模块工作状态老化过程的方法，其特征在于：接口电路对光模块的相关参数实现在线监控以及数字化的总线协议转换。

9.如权利要求1所述的实时监测光模块工作状态老化过程的方法，其特征在于：微处理器模块存储区域包含了光模块的通用信息和基本配置信息：模块序列号、软件版本号，通过12C通信对存储区的信息写入进行读写、存档。

10.如权利要求1所述的实时监测光模块工作状态老化过程的方法，其特征在于：自动监测软件包含了数字诊断监测模块、性能调节模块，校准设置模块、自动监测模块和数据库，其中，数字诊断监测模块监视5个模拟参量，警告和告警标志位，定时刷新显示，根据SFF8.472协议自定义读取光模块内对应寄存器地址中的信息并予以解析，转换成规定的格式显示；性能调节模块调节光模块调制直接影响光发射功率的电流MOD值，偏置电流BIAS，设置LOS门限和APD电压；校准设置模块校准发射及接收光功率的校准参数，将在规定范围内的校准参数信息存储在芯片内部的EEPROM中；自动监测模块，自动校准发射端发射光功率和接收端的接收光功率，对误码率、消光比和灵敏度等参数进行测量，并以一定格式保存眼图信息；数据库保存测试数据以及调用以前保存的数据，将光模块内部告警阈值或者温度补偿表等信息通过可视化程序对数据库进行修改操作。