[发明专利]一种沉积岩Os初始值的分析方法

权利要求书

1.一种沉积岩Os初始值的分析方法，其特征在于，步骤为：

步骤一，沉积岩样品采集；

步骤二，制作岩石薄片；

步骤三，在所述岩石薄片上建立直角坐标系，在扫描电子显微镜的背散射图像下确定分析目标所处象限和直角坐标，对岩石薄片分析目标定位；所述分析目标为有效直径为20～70um的自生黄铁矿；

步骤四，根据所述直角坐标系、分析目标所处象限和分析目标的直角坐标在LA-MC-ICP-MS光学镜头下再次确定分析目标的位置，进行LA-MC-ICP-MS激光原位剥蚀自生黄铁矿Os同位素测试，测得M/Z185、M/Z187、M/Z188信号数据；

步骤五，对所述信号数据进行处理，得到沉积岩Os初始值；

所述步骤一中，沉积岩样品采集的最大纵向间距为H，H＝α×K，其中，α-沉积岩样品沉积年代误差，Ma；K-沉积岩沉积速率，m/Ma；

采集的沉积岩样品属于同一地层年代；

所述步骤二中，选取肉眼或放大镜下能够观察到黄铁矿的沉积岩样品，经过切割、磨平、上胶、切片、研磨、拋光制成岩石薄片；

所述岩石薄片的厚度为100～300um，数量为5～10个；

所述步骤三中，利用岩石薄片分析目标定位装置在岩石薄片上建立直角坐标系；

所述岩石薄片分析目标定位装置包括固定脚、定位脚以及设置在固定脚和定位脚顶端的把头，所述把头下端连接有四个所述定位脚，固定有一个所述固定脚；所述固定脚位于四个所述定位脚中间；所述定位脚两两相对设置，相对设置的两个定位脚与固定脚位于同一个平面，两组相对设置的定位脚形成的两个平面互相垂直，固定脚所在直线为两个垂直平面的交线；所述固定脚和定位脚的底端分别设置有标记工具，所述标记工具内充填液态环氧树脂；所述定位脚标记工具与薄片的四个接触点连接构成直角坐标系，所述固定脚标记工具与薄片的接触点为直角坐标系原点；

所述步骤四中，激光剥蚀时，选取的激光剥蚀斑束的直径与自生黄铁矿的有效直径相匹配，使激光剥蚀斑束全部落在自生黄铁矿表面；

激光剥蚀斑束打在自生黄铁矿表面为圆形斑点，圆形斑点范围内全部为自生黄铁矿，且不覆盖自生黄铁矿以外的矿物及基质；

分析时激光剥蚀斑束的直径和频率分别设定为40～60um和6～10Hz。

2.根据权利要求1所述的沉积岩Os初始值的分析方法，其特征在于，所述步骤四中，使用的激光剥蚀系统为飞秒激光，激光剥蚀过程采用氦气作载气，氩气作补偿气，氦气流出剥蚀池后，经T形接头与氩气混合，并在T形接头的一端加入少量氮气；氦气、氩气、氮气的混合气体进入电感耦合等离子体质谱仪前通过一个信号匀化装置，用以匀化激光剥蚀产生的样品信号。

3.根据权利要求1所述的沉积岩Os初始值的分析方法，其特征在于，所述步骤四中，Os同位素数据测试包括依次进行的空白数据测试和样品信号采集数据测试，Os同位素数据测试的测试时间为100s，空白数据测试的测试时间为60s，样品信号采集数据测试的测试时间为40s；

空白数据测试测得的空白数据为Os同位素数据测试的测试时间为第40s至55s的信号数据的平均值；样品信号采集数据测试测得的样品数据为Os同位素数据测试第65s至85s期间的信号数据的平均值。

4.根据权利要求1所述的沉积岩Os初始值的分析方法，其特征在于，所述步骤四中，将分析目标分为多组进行测试，每组测试4～6个分析目标；在每组测试中的第一个分析目标测试之前和最后一个分析目标测试之后，分别进行一次标样测试。

5.根据权利要求1所述的沉积岩Os初始值的分析方法，其特征在于，所述步骤五中，对所述信号数据进行异常值剔除和同位素分馏校正处理，计算已剔除异常值和同位素分馏校正后的自生黄铁矿Os初始值数据均值，得到沉积岩Os初始值Osi；

沉积岩Os初始值的最终结果表达式为：

其中，Osi-最终沉积岩Os初始值，剔除异常值并经过同位素分馏校正后Os初始值数据的平均值，x-不确定度；

所述不确定度x的计算公式为：

其中，σ_i-剔除异常值并经过同位素分馏校正后Os初始值数据的标准偏差，N′-剔除异常值后剩余数据个数。