[发明专利]一类新型二维层状半导体材料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201810937272.2 申请日: 2018-08-16
公开(公告)号: CN110835109B 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 封伟;赵付来;张鑫;王宇;冯奕钰 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: C01B33/06 分类号: C01B33/06;C22C12/00;C22C1/04
代理公司: 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 12214 代理人: 王秀奎
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一类 新型 二维 层状 半导体材料 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.二维层状半导体材料,其特征在于,二维层状半导体材料为二维IV-V族二元半导体材料,通过溶剂液相剥离得到多层的二维纳米片,按照下述步骤进行:将金属单质Bi和单质X按照等摩尔比混合均匀后,置于真空密封石英管中,再将石英管置于加热装置中进行高温烧结反应,待反应结束后即可得到二维层状半导体材料,单质X为Si,Ge或者Sn,高温烧结参数:以0.5-5℃/min的速度自20-25℃升温到1000-1200℃并保温20—80h,然后再以0.5-5℃/min的速度降温至20-25℃。

2.根据权利要求1所述的二维层状半导体材料,其特征在于,高温烧结参数:以0.5-1.5℃/min的速度自20-25℃升温到1000-1200℃并保温24-72h,然后再以0.5-1.5℃/min的速度降温至20-25℃。

3.根据权利要求1所述的二维层状半导体材料,其特征在于,高温烧结参数:以1-3℃/min的速度自20-25℃升温到1000-1100℃并保温30-60h,然后再以1-3℃/min的速度降温至20-25℃。

4.二维层状半导体材料的制备方法,其特征在于,按照下述步骤进行:将金属单质Bi和单质X按照等摩尔比混合均匀后,置于真空密封石英管中,再将石英管置于加热装置中进行高温烧结反应,待反应结束后即可得到二维层状半导体材料,单质X为Si,Ge或者Sn,高温烧结参数:以0.5-5℃/min的速度自20-25℃升温到1000-1200℃并保温20—80h,然后再以0.5-5℃/min的速度降温至20-25℃。

5.根据权利要求4所述的二维层状半导体材料的制备方法,其特征在于,高温烧结参数:以0.5-1.5℃/min的速度自20-25℃升温到1000-1200℃并保温24-72h,然后再以0.5-1.5℃/min的速度降温至20-25℃。

6.根据权利要求4所述的二维层状半导体材料的制备方法,其特征在于,高温烧结参数:以1-3℃/min的速度自20-25℃升温到1000-1100℃并保温30-60h,然后再以1-3℃/min的速度降温至20-25℃。

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