[发明专利]发光装置的亮度补偿方法

说明书

本发明提出一种发光装置的亮度补偿方法。发光装置具有多个发光元件。本发明的亮度补偿方法包括以下步骤：取得这些发光元件中至少其中一个亮度异常发光元件的位置，以及改变亮度异常发光元件的至少一个邻近发光元件的亮度，以对亮度异常发光元件进行亮度补偿。

技术领域

本发明涉及一种亮度补偿方法，特别涉及一种发光装置的亮度补偿方法。

背景技术

由次毫米发光二极管(Mini LED)或微发光二极管(Micro LED，μLED)所组成的次毫米发光二极管阵列(Mini LED Array)或微发光二极管阵列(Micro LED Array)装置，例如Mini LED显示器或μLED显示器，相比于传统液晶显示器而言，其因无需额外的背光光源而更有助于达成轻量化及薄型化等目的。

然而，对于次毫米发光二极管或微发光二极管的发光装置而言，由于次毫米发光二极管或微发光二极管的边长尺寸相当小(例如小于200微米或更小)，当发现故障而产生亮度异常时，要对这么小尺寸的发光二极管进行修补或更换，基本上相当困难。

发明内容

本发明的目的为提供一种发光装置的亮度补偿方法，可以具有较低的修补困难度，而且可以达到亮度补偿的效果。

本发明提出一种发光装置的亮度补偿方法。发光装置具有多个发光元件。亮度补偿方法包括以下步骤：取得这些发光元件中至少其中一个亮度异常发光元件的位置；以及改变亮度异常发光元件的至少一个邻近发光元件的亮度，以对亮度异常发光元件进行亮度补偿。

在一个实施例中，亮度异常发光元件的位置对应为暗点或亮点。

在一个实施例中，在取得亮度异常发光元件的位置的步骤之前，进一步包括：以至少一个预设灰阶值点亮发光装置。

在一个实施例中，在以预设灰阶值点亮发光装置的步骤之后，进一步包括：提取这些发光元件的影像，以判断亮度异常发光元件的位置。

在一个实施例中，在以预设灰阶值点亮发光装置的步骤之后，进一步包括：量测这些发光元件的电压或电流值，以判断亮度异常发光元件的位置。

在一个实施例中，在对亮度异常发光元件进行亮度补偿的步骤中，改变亮度异常发光元件的至少一个邻近发光元件的亮度峰值或占空比(duty cycle)。

在一个实施例中，在距离亮度异常发光元件第一距离有N个邻近发光元件，且N个邻近发光元件与亮度异常发光元件发出相同颜色的光线，其中，进行补偿亮度异常发光元件的邻近发光元件则有M个，M小于或等于N，且M、N分别为大于或等于1的正整数。

在一个实施例中，当亮度异常发光元件的亮度L1与正常亮度L的差值为(L1-L)时，各进行补偿亮度异常发光元件的M个邻近发光元件的发光亮度介于L-(L1-L)与L之间。

在一个实施例中，在距离亮度异常发光元件第二距离进一步具有P个邻近发光元件，且P个邻近发光元件与亮度异常发光元件发出相同颜色的光线，其中，进行补偿亮度异常发光元件的邻近发光元件则有Q个，Q小于或等于P，且P、Q为大于或等于1的正整数。

在一个实施例中，当亮度异常发光元件的亮度L2与正常亮度L的差值为(L2-L)时，各进行补偿的亮度异常发光元件的Q个邻近发光元件的发光亮度介于L-(L2-L)与L之间。

在一个实施例中，在对亮度异常发光元件进行亮度补偿的步骤之前，进一步包括：去除至少部分的亮度异常发光元件与至少一个邻近发光元件之间的混光防止层。

在一个实施例中，发光元件可以为次毫米发光二极管或微发光二极管。