[发明专利]开口大小可调的星敏感器周围球形杂光抑制系统

说明书

开口大小可调的星敏感器周围球形杂光抑制系统，属于杂光抑制技术领域，为解决现有技术无法解决由光源出射光束照射至星敏感器表面产生的测试背景区域有杂光污染的问题。包括球形杂光抑制结构、电动可变光阑、圆环式电控旋转底座、二维电控旋转平台和光学测试平台；光源出射光束直射至星敏感器遮光罩入口处，星敏感器遮光罩由二维电控旋转平台带动旋转，二维电控旋转平台安装在光学测试平台上方，球形杂光抑制结构由圆环式电控旋转底座带动旋转，星敏感器遮光罩与球形杂光抑制结构同步旋转；电动可变光阑安装在球形杂光抑制结构的开口处，通过调整电动可变光阑开口的大小改变球形杂光抑制结构开口的大小。本发明用于星敏感期的地面验证实验。

技术领域

本发明涉及一种星敏感器周围球形杂光抑制系统，属于杂光抑制技术领域。

背景技术

随着航天事业的发展，星敏感器在空间飞行器姿态确定方面的应用得到世界各国的广泛关注。星敏感器工作在视场外有强烈辐射源(如太阳、月亮、地球)的恶劣环境中，主要针对空间弱小运动目标成像，背景杂光严重影响星敏感器的姿态测量精度。

在进行星敏感器地面测试与验证实验时，光源出射光束照射到星敏感器遮光罩挡光环、星敏感器遮光罩外壁以及星敏感器周围其它结构表面(如二维电控旋转平台表面、积分球箱体表面、光学测试平台表面等)产生的散射或衍射光对星敏感器测试背景区域造成杂光污染，直接影响了星敏感器像面处的能量分布及遮光罩消光比的测量精度，但目前尚无有效手段解决由光源出射光束照射至星敏感器表面所产生的测试背景区域杂光污染问题。

发明内容

本发明目的是为了解决现有技术无法解决由光源出射光束照射至星敏感器表面产生的测试背景区域有杂光污染的问题，提供了一种开口大小可调的星敏感器周围球形杂光抑制系统。

本发明所述开口大小可调的星敏感器周围球形杂光抑制系统，它包括球形杂光抑制结构、电动可变光阑、圆环式电控旋转底座、二维电控旋转平台和光学测试平台；

光源出射光束直射至星敏感器遮光罩入口处，星敏感器遮光罩固定在二维电控旋转平台的上方，且星敏感器遮光罩由二维电控旋转平台带动旋转，二维电控旋转平台安装在光学测试平台的上方，球形杂光抑制结构固定在圆环式电控旋转底座的上方，且球形杂光抑制结构由圆环式电控旋转底座带动旋转，星敏感器遮光罩与球形杂光抑制结构同步旋转；

电动可变光阑安装在球形杂光抑制结构的开口处，通过调整电动可变光阑开口的大小改变球形杂光抑制结构开口的大小。

本发明的优点：本发明所述的开口大小可调的星敏感器周围球形杂光抑制系统用于消除光源出射光束照射至星敏感器表面所产生的杂光。本发明具有如下优点：

1、高消光率，由光源出射光束照射至星敏感器表面所产生的杂光在球形杂光抑制结构内壁经多次反射后可被其充分吸收，本系统有效地抑制了星敏感器地面验证时其视场指向区域的背景杂光；

2、由于在球形杂光抑制结构圆形开口处安装有电动可变光阑，该电动可变光阑用以调整球形杂光抑制结构圆形开口大小，本发明能够满足不同工作视场大小的星敏感器地面杂光测试与验证需求。

3、电动可变光阑、圆环式电控旋转底座及二维电控旋转平台为联动系统，集成度高。

附图说明

图1是本发明所述开口大小可调的星敏感器周围球形杂光抑制系统的结构示意图。

具体实施方式

具体实施方式一：下面结合图1说明本实施方式，本实施方式所述开口大小可调的星敏感器周围球形杂光抑制系统，它包括球形杂光抑制结构1、电动可变光阑2、圆环式电控旋转底座3、二维电控旋转平台4和光学测试平台6；