[发明专利]一种变频电机电阻检测方法和装置

权利要求书

1.一种变频电机电阻检测方法，其特征在于，预设各种类型变频电机的标准相电流，并预存(V_sx+V_dx)～I_x对应表，其中，I_x表征x相线圈对应的相电流，x取值为u、v及w，V_sx表征所述x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；V_dx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降；还包括：

当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；

向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；

检测所述待检测相线圈的流入相电流；

如果|I_i-I_b|＞Y，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至|I_i-I_b|≤Y，其中，I_i表征所述流入相电流，I_b表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征预设的电流差阈值；

当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；

检索(V_sx+V_dx)～I_x对应表，确定检测到的流入相电流对应的(V_sx+V_dx)值；

利用流入相电流及其对应的(V_sx+V_dx)值、直流母线电压以及PWM波的周期和调控后的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻；

所述检测所述待检测相线圈的流入相电流，如果|I_i-I_b|＞Y，则调控待检测相线圈对应的PWM波的占空比，直至|I_i-I_b|≤Y，包括：

循环执行下述N1至N4：

N1：在上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；

N2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|I_i-I_b|＞Y，则执行N3，如果|I_i-I_b|≤Y，则执行N4；

N3：判断I_i是否大于I_b，如果是，则根据下述第一寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，按照本次调控的修正寄存值，向所述待检测相线圈输送PWM波，以实现减小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；否则，则根据下述第二寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，按照本次调控的修正寄存值，向所述待检测相线圈输送PWM波，以实现增大PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；

第一寄存值修正公式：

T_an＝T_a(n-1)-ΔT_a

第二寄存值修正公式：

T_an＝T_a(n-1)+ΔT_a

其中，T_an表征本次调控的修正寄存值；T_a(n-1)表征上一次调控的修正寄存值；ΔT_a表征预设的修正常数；I_i表征所述流入相电流，I_b表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；

N4：停止调控，并结束循环。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述PWM波的一个周期波形为