[发明专利]成像设备色彩校正方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号: | 201810922340.8 | 申请日: | 2018-08-14 |
| 公开(公告)号: | CN110830778B | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
| 发明(设计)人: | 朱成;陈军;高浩然;王祖力;黄中宁;郑海涛;刘瑞红;范沣曦;殷欢 | 申请(专利权)人: | 杭州海康威视数字技术股份有限公司 |
| 主分类号: | H04N9/04 | 分类号: | H04N9/04;H04N9/69 |
| 代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 丁芸;项京 |
| 地址: | 310051 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 成像 设备 色彩 校正 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种成像设备色彩校正方法,其特征在于,所述方法包括:
获取模板样件的色彩参数作为初始参考参数,获取采样图像的色彩参数作为初始采样参数,其中,所述采样图像为待校正数字成像设备在预设拍摄条件下拍摄所述模板样件所得到的图像,所述模板样件包括多种颜色;
根据所述初始参考参数及所述初始采样参数,确定初始色彩校正矩阵;
通过所述初始色彩校正矩阵,校正所述初始采样参数,得到一次校正采样参数;
按照所述一次校正采样参数与所述初始参考参数中各相应颜色的色彩偏差,调整所述初始参考参数中的待调整颜色的参数,得到一次校正参考参数;
根据所述一次校正参考参数及所述初始采样参数校正所述初始采样参数,得到二次校正采样参数;
判断所述二次校正采样参数与所述一次校正参考参数中各相应颜色的色彩偏差是否均满足预设偏差范围;
若所述二次校正采样参数与所述一次校正参考参数中各相应颜色的色彩偏差均满足预设偏差范围,将一次色彩校正矩阵作为所述待校正数字成像设备的色彩校正矩阵;所述一次色彩校正矩阵是根据所述一次校正参考参数与所述初始采样参数确定得到的;
若所述二次校正采样参数与所述一次校正参考参数中各相应颜色的色彩偏差未全部满足预设偏差范围,将所述一次校正采样参数的当前值更新为所述二次校正采样参数的当前值,将所述初始参考参数的当前值更新为所述一次校正参考参数的当前值,返回上述按照所述一次校正采样参数与所述初始参考参数中各相应颜色的色彩偏差调整所述初始参考参数中的待调整颜色的参数,得到一次校正参考参数的步骤继续执行,直至所述二次校正采样参数与所述一次校正参考参数中各相应颜色的色彩偏差均满足预设偏差范围;
利用所述待校正数字成像设备的色彩校正矩阵,对所述待校正数字成像设备的色彩进行校正。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述按照所述一次校正采样参数与所述初始参考参数中各相应颜色的色彩偏差,调整所述初始参考参数中的待调整颜色的参数,得到一次校正参考参数,包括:
按照所述一次校正采样参数与所述初始参考参数中各相应颜色的色彩偏差,确定待调整颜色及所述待调整颜色的色彩微调参数;
按照所述色彩微调参数调整所述初始参考参数中的待调整颜色的参数,得到所述一次校正参考参数。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述根据所述一次校正参考参数及所述初始采样参数校正所述初始采样参数,得到二次校正采样参数,包括:
根据所述一次校正参考参数及所述初始采样参数,确定一次色彩校正矩阵;
通过所述一次色彩校正矩阵校正所述初始采样参数,得到所述二次校正采样参数。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在根据所述初始参考参数及所述初始采样参数,校正所述初始采样参数,得到一次校正采样参数之后,所述方法还包括:
判断所述一次校正采样参数与所述初始参考参数中各相应颜色的色彩偏差是否均满足预设偏差范围;
若所述一次校正采样参数与所述初始参考参数中各相应颜色的色彩偏差均满足预设偏差范围,将所述初始色彩校正矩阵作为所述待校正数字成像设备的色彩校正矩阵;
所述按照所述一次校正采样参数与所述初始参考参数中各相应颜色的色彩偏差,调整所述初始参考参数中的待调整颜色的参数,得到一次校正参考参数,包括
若所述一次校正采样参数与所述初始参考参数中各相应颜色的色彩偏差不均满足预设偏差范围,按照所述一次校正采样参数与所述初始参考参数中各相应颜色的色彩偏差,调整所述初始参考参数中的待调整颜色的参数,得到一次校正参考参数。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述初始参考参数及所述初始采样参数,确定初始色彩校正矩阵,包括:
基于增广拉格朗日乘子法,计算令所述初始参考参数经过校正矩阵校正后,与所述初始采样参数的整体色彩偏差值最小的校正矩阵,作为所述初始色彩校正矩阵。
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