[发明专利]一种加压条件下液体折射率的测定方法有效
申请号: | 201810916076.7 | 申请日: | 2018-08-13 |
公开(公告)号: | CN108872179B | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 杨坤;李海宁;王世卓;程学瑞;王东琳;苏玉玲 | 申请(专利权)人: | 郑州轻工业学院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/43 |
代理公司: | 北京元本知识产权代理事务所(普通合伙) 11308 | 代理人: | 秦力军 |
地址: | 450001 河南省郑州*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 加压 条件下 液体 折射率 测定 方法 | ||
1.一种加压条件下液体折射率的测定方法,其特征是,包括:
测定常压下不同温度的待测液体中荧光探针特征峰强度;
测定常压下所述不同温度所对应的温度下待测液体的折射率;
建立荧光探针特征峰强度与待测液体折射率之间的对应关系,其中,所述荧光探针特征峰强度与待测液体折射率之间的对应关系按照如下方法建立:
A)根据测定的待测液体的折射率,计算常压下所述不同温度下的待测液的折射率参数;
B)以测定的荧光探针特征峰强度的对数为纵坐标、以待测液体的折射率参数为横坐标,利用线性回归法,进行数据拟合,建立待测液体中荧光分子转子探针的荧光特征峰强度与待测液体折射率参数的工作曲线,工作曲线如公式A所示:
logI=aR+b (A)
其中,式中I为测定的常压下不同温度的待测液体中荧光探针特征峰强度a.u.;R为待测液的折射率参数;
测定加压压力条件下的待测液体中荧光探针特征峰强度,根据建立的荧光探针特征峰强度与待测液体折射率的对应关系,获得待测液体在压力条件下的折射率。
2.如权利要求1所述的测定方法,其特征是,所述压力条件为绝对压力≥0.1MPa。
3.如权利要求1所述的测定方法,其特征是,所述的荧光探针选择分子转子荧光探针。
4.如权利要求1所述的测定方法,其特征是,步骤A)中所述待测液体折射率参数按照公式B计算:
R=(n2+2)/(n2-1) (B)
式中:n为待测液体的折射率。
5.一种加压条件下液体折射率的测定方法,其特征是,包括如下步骤:
1)将荧光分子转子探针与待测液体混合均匀,配制荧光分子转子探针-待测液体混合液;
2)于常压下分别测定不同温度条件下待测液体中荧光分子转子探针的荧光特征峰强度I;
3)于常压下分别测定与步骤2)中所述不同温度相对应的温度条件下的待测液体的折射率n;然后按照公式B计算相应温度条件下待测液体的折射率参数R,公式如下:
R=(n2+2)/(n2-1) (B)
式中:n为待测液体的折射率;
4)根据测定的待测液体中荧光分子转子探针的荧光特征峰强度与所述不同温度对应温度条件下的待测液体折射率参数,以荧光特征峰强度的对数为纵坐标、以待测液体的折射率参数为横坐标,利用线性回归法,进行数据拟合,建立待测液体中荧光分子转子探针的荧光特征峰强度与待测液体折射率参数的工作曲线,工作曲线如式A所示:
logI=aR+b (A)
其中,式中I为步骤2)中测定的待测液体中荧光分子转子探针的荧光特征峰强度,a.u.;R为折射率参数:
5)在压力条件下测定荧光分子转子探针-待测液体混合液中荧光分子转子探针的特征峰强度;
6)将步骤5)测定的荧光分子转子探针-待测液体混合液中荧光分子转子探针的特征峰强度代入公式A,计算得到待测液体的折射率参数,然后根据折射率参数代入公式B,计算得到待测液体在压力条件下的折射率。
6.如权利要求5所述的测定方法,其特征是,步骤1)中所述荧光分子转子探针选择基于扭转分子内电荷转移机理的荧光分子转子探针。
7.如权利要求5或6所述的测定方法,其特征是,步骤1)中所述荧光分子转子探针-待测液体混合液中荧光分子转子探针的浓度为1×10-6~1×10-5mM/L。
8.如权利要求5或6所述的测定方法,其特征是,步骤5)中所述压力条件为待测液体测定过程中的压力0.1MPa
9.如权利要求5或6所述的测定方法,其特征是,步骤2)中所述不同温度条件为温度高于待测液体的凝固点温度且低于待测液体气化点温度。
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