[发明专利]一种硬盘在位检测装置和方法

权利要求书

1.一种硬盘在位检测装置，其特征在于，包括：用于检测M.2SSD和M.3SSD是否在位的检测电路和用于将所述M.2SSD和所述M.3SSD与所述检测电路连接的连接器；

当所述M.2SSD与所述连接器接通时，通过所述检测电路输出与所述M.2SSD对应的检测信号；

当所述M.3SSD与所述连接器接通时，通过所述检测电路输出与所述M.3SSD对应的检测信号；

所述连接器包括：第一连接口，第二连接口和第三连接口；

所述第三连接口接地；

所述第一连接口通过所述检测电路输出的检测信号与所述M.3SSD相对应；

所述第二连接口通过所述检测电路输出的检测信号与所述M.2SSD相对应；

所述检测电路包括：

与所述第一连接口连接的第一支路和与所述第二连接口连接的第二支路；

所述第一支路包括：上拉电阻，所述上拉电阻的第一端与电源连接，所述上拉电阻的第二端与所述第一连接口连接，通过所述第一支路输出的信号与所述M.3SSD相对应；

所述第二支路包括：非门，所述非门的输入端与所述第一连接口连接；与门，所述与门的第一输入端与所述非门的输出端连接，所述与门的第二输入端与所述第二连接口连接，通过所述第二支路输出的信号与所述M.2SSD相对应。

2.根据权利要求1所述的硬盘在位检测装置，其特征在于，当所述M.2SSD与所述连接器接通时，所述连接器与所述M.2SSD的连接关系具体为：

所述连接器的第二连接口悬空，通过所述检测电路的第一支路输出第一信号；

所述连接器的第二连接口与所述M.2SSD的地端连接，通过所述检测电路的第二支路输出与所述M.2SSD对应的在位信号，所述在位信号为第二信号。

3.根据权利要求1所述的硬盘在位检测装置，其特征在于，当所述M.3SSD与所述连接器接通时，所述连接器与所述M.3SSD连接关系具体为：

所述连接器的第二连接口与所述M.3SSD内的地端连接，所述M.3SSD的第二针脚接地，通过所述检测电路的第二支路输出第一信号；

所述M.3SSD内的第一针脚与所述M.3SSD内的第三针脚连接，所述连接器的第三连接口接地，通过所述检测电路的第一支路输出第二信号。

4.根据权利要求2或3所述的硬盘在位检测装置，其特征在于，所述第一信号为高电平信号，所述第二信号为低电平信号。

5.一种硬盘在位检测方法，其特征在于，包括：

当检测到SSD的连接信号后，与所述SSD接通；

通过检测电路输出与所述SSD对应的检测信号；

其中，所述SSD包括M.2SSD和M.3SSD；

连接器包括：第一连接口，第二连接口和第三连接口；

所述第三连接口接地；

所述第一连接口通过所述检测电路输出的检测信号与所述M.3SSD相对应；

所述第二连接口通过所述检测电路输出的检测信号与所述M.2SSD相对应；

所述检测电路包括：

与所述第一连接口连接的第一支路和与所述第二连接口连接的第二支路；

所述第一支路包括：上拉电阻，所述上拉电阻的第一端与电源连接，所述上拉电阻的第二端与所述第一连接口连接，通过所述第一支路输出的信号与所述M.3SSD相对应；

所述第二支路包括：非门，所述非门的输入端与所述第一连接口连接；与门，所述与门的第一输入端与所述非门的输出端连接，所述与门的第二输入端与所述第二连接口连接，通过所述第二支路输出的信号与所述M.2SSD相对应。

6.根据权利要求5所述的硬盘在位检测方法，其特征在于，所述当检测到SSD的连接信号后，与所述SSD接通包括：

若所述SSD为所述M.2SSD，则通过第二连接口与所述M.2SSD的地端连接；

对应的，所述通过检测电路输出与所述SSD对应的检测信号包括：

通过所述检测电路的第一支路输出第一信号，和通过所述检测电路的第二支路输出与所述M.2SSD对应的在位信号，所述在位信号具体为第二信号。