[发明专利]一种氧化亚铜薄膜及其制备方法与应用在审
申请号: | 201810911040.X | 申请日: | 2018-08-10 |
公开(公告)号: | CN109087967A | 公开(公告)日: | 2018-12-25 |
发明(设计)人: | 赵传熙;麦文杰;刘于金 | 申请(专利权)人: | 暨南大学 |
主分类号: | H01L31/074 | 分类号: | H01L31/074;H01L31/0336;H01L31/18 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 雷月华 |
地址: | 510632 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 氧化亚铜薄膜 制备 硅异质结太阳能电池 氧化亚铜 溶液法 薄膜太阳能电池 过渡金属氧化物 应用 大规模应用 太阳能电池 一价铜离子 碘化亚铜 硅异质结 填充因子 原位氧化 传统的 一步法 薄膜 简易 成功 | ||
1.一种氧化亚铜薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)将碘化亚铜溶于极性非质子溶剂中,振荡后得到分散均匀、溶解充分的碘化亚铜-极性非质子溶剂混合溶液;
(2)将步骤(1)得到的碘化亚铜-极性非质子溶剂混合溶液涂覆在基底表面,得到碘化亚铜薄膜;
(3)将步骤(2)得到的碘化亚铜薄膜浸泡于碱溶液中,然后清洗、吹干,制得氧化亚铜薄膜。
2.根据权利要求1所述一种氧化亚铜薄膜的制备方法,其特征在于,步骤(1)所得碘化亚铜-极性非质子溶剂混合溶液的质量体积浓度为1~20mg/ml。
3.根据权利要求1所述一种氧化亚铜薄膜的制备方法,其特征在于,步骤(1)所述极性非质子溶剂包括乙腈、二甲基甲酰胺或二甲基亚砜。
4.根据权利要求1所述一种氧化亚铜薄膜的制备方法,其特征在于,步骤(2)所述基底包括N型单晶硅基底,厚度为450μm,电阻率为1.5-2.6Ω·cm。
5.根据权利要求1所述一种氧化亚铜薄膜的制备方法,其特征在于,步骤(2)所述涂覆为旋涂或超声喷涂。
6.根据权利要求1所述一种氧化亚铜薄膜的制备方法,其特征在于,步骤(3)所述浸泡时间5~10秒,所述碱溶液为氢氧化钠溶液和/或氢氧化钾溶液,碱溶液质量体积浓度为10~20mg/ml。
7.由权利要求1--6任一项所述制备方法得到的一种氧化亚铜薄膜。
8.权利要求7所述氧化亚铜薄膜的应用,其特征在于,所述氧化亚铜薄膜应用于制备氧化亚铜/硅异质结太阳能电池。
9.一种氧化亚铜/硅异质结太阳能电池,其特征在于,其通过如下步骤制得:
1)权利要求7所述氧化亚铜薄膜作为空穴传输层,在该氧化亚铜薄膜表面沉积50-100nm的透明导电薄膜;
2)在透明导电薄膜表面蒸镀厚度为100-200nm的Ag栅电极,作为上电极;
3)在Ag栅电极上面沉积厚度为1-3nm的致密Al2O3薄膜;
4)最后,在氧化亚铜薄膜背面,即基底另一面镀上厚度为100-300nm的Al电极,作为下电极。
10.根据权利要求9所述一种氧化亚铜/硅异质结太阳能电池,其特征在于,所述沉积为原子层沉积;步骤1)所述透明导电薄膜为TCO或ITO导电薄膜;步骤2)所述蒸镀为真空热蒸发镀膜法,其中,蒸镀腔体的真空度为2×10-4~5×10-4,蒸镀速率为
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于暨南大学,未经暨南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810911040.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的