[发明专利]一种光放大器的光学参数的测量方法

说明书

本发明公开了一种光放大器的光学参数的测量方法，以相邻信号峰中间点位作为取样点，两个相邻的取样点之间的距离作为放大自发辐射(ASE)噪声的带宽B_total，并采用二次曲线拟合计算信号峰的带宽B_sig内ASE光的总功率P_ASE，sig，进而计算光放大器的光学参数，相对于现有的EDFA的测量方法中根据经验选取一个固定的ASE噪声取样带宽B_total并假定ASE谱是平坦的一次曲线来说，测量得到的光放大器的光学参数更真实，结果更精确。

技术领域：

本发明属于光纤通讯技术领域，特别涉及一种光放大器的光学参数的测量方法。

背景技术：

光放大器的主要光学参数包括增益(Gain，G)，光信噪比(Optical Signal NoiseRatio，OSNR)，和噪声系数(Noise Figure，NF)。其中NF是光放大器的最重要的光学指标之一，表征了输入光经过放大后其光信噪比的恶化程度。

当前工业界使用的光放大器主要分为三种，包括掺铒光纤放大器(Erbium DopedFiber Amplifier，EDFA)，拉曼光纤放大器(Raman Fiber Amplifier，RFA)，半导体光放大器(Semiconductor Optical Amplifier，SOA)，其中使用最多的是EDFA，尤其在光通信传输网中使用最多的密集波分复用(Dense Wavelength Division Multiplexing)领域中得到了广泛应用。但是EDFA的放大波长受到增益介质即掺铒光纤的限制，只能在1550nm附近的C波段和L波段进行光放大。而随着数据中心、稀疏波分复用(Coarse Wavelength DivisionMultiplexing，CWDM)等应用的兴起，1310nm以及附近的1270nm、1290nm、1330nm等波长得到了越来越广泛的使用，对该波段进行放大主要以半导体光放大器为主要选择。当前工业界测量各种光放大器包括半导体光放大器的主要光学参数的方法主要还是沿用EDFA的测量方法，在这种方法中计算光学参数时值往往是认为整个放大自发辐射(ASE)噪声谱是平坦的，但对于半导体光放大器来说，ASE谱往往是不平坦的而是呈类似开口向下的抛物线形状，因此对于半导体光放大器来说，继续沿用EDFA的测量方法得到的光学参数值可能会不准确，甚至严重失实。此外，因为传统的DWDM中的典型信道间隔只有0.8nm，而CWDM中的典型信道间隔则是20nm，这导致后者的噪声带宽大了一个数量级，因此不仅不能再被看作是平坦的，而且实际进入信号接收器的噪声功率也会大很多。

公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本发明的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

发明内容：

本发明的目的在于提供一种光放大器的光学参数的测量方法，从而克服上述现有技术中的缺陷。

为实现上述目的，本发明提供了一种光放大器的光学参数的测量方法，包括以下步骤：

(1)采用光谱仪扫描光放大器的输入信号光并得到输入信号光光谱，获取信号峰部分的带宽B_sig内的总功率作为输入信号光总功率P_in，sig；

(2)采用光谱仪扫描光放大器的输出信号光并得到输出信号光光谱，获取与步骤(1)对应的信号峰部分的带宽B_sig内的总功率作为输出信号光总功率P_out，sig；

(3)以相邻信号峰中间点位作为取样点，两个相邻的取样点之间的距离作为放大自发辐射(ASE)噪声的带宽B_total，并根据公式：B_ASE＝B_total-B_sig计算出ASE噪声的带宽B_ASE；