[发明专利]半导体装置以及故障诊断方法

说明书

实施方式涉及半导体装置以及故障诊断方法。根据实施方式，提供一种具有第1模块和第2模块的半导体装置。第2模块被配置在第1模块的输入侧。第1模块具有逻辑电路、自测试电路、输入接口电路以及故障监视电路。自测试电路与逻辑电路连接。输入接口电路被配置在第2模块与自测试电路之间。故障监视电路与输入接口电路连接。

本申请基于2018年3月15日申请的日本国专利申请编号2018－48362主张优先权，该日本国专利申请的全部内容被援引到本申请中。

技术领域

本实施方式涉及半导体装置以及故障诊断方法。

背景技术

在搭载有逻辑电路以及自测试电路(BIST：Built In Self Test：内建自测试)的半导体装置中，通过使用自测试电路来进行逻辑电路的检查，能够进行逻辑电路的优劣判定。此时，为了恰当地进行逻辑电路的优劣判定，希望恰当地进行半导体装置中的故障诊断。

发明内容

实施方式提供能够恰当地进行故障诊断的半导体装置以及故障诊断方法。

根据实施方式，提供具有第1模块和第2模块的半导体装置。第2模块被配置在第1模块的输入侧。第1模块具有逻辑电路、自测试电路、输入接口电路以及故障监视电路。自测试电路与逻辑电路连接。输入接口电路被配置在第2模块与自测试电路之间。故障监视电路与输入接口电路连接。

附图说明

图1是表示实施方式涉及的半导体装置的构成的图。

图2是表示实施方式中的逻辑BIST模块的构成的图。

图3是表示实施方式涉及的半导体装置的动作的图。

图4是表示实施方式中的输入接口电路以及故障监视电路的构成的图。

图5是表示实施方式中的输出接口电路以及故障监视电路的构成的图。

图6是表示实施方式中的逻辑BIST模块间的构成(逻辑BIST诊断时)的图。

图7是表示实施方式中的输出接口电路以及故障监视电路的构成的图。

具体实施方式

以下参照附图，对实施方式涉及的半导体装置详细进行说明。其中，本发明并不由该实施方式限定。

(实施方式)

实施方式涉及的半导体装置被应用于要求高可靠性的系统(例如，车载产品、医疗设备等的系统)，例如，如图1所示那样构成。图1是表示半导体装置1的构成的图。

可在半导体装置1中搭载用于进行系统中的规定的控制的逻辑电路。即便是在半导体装置1的出厂前通过测试工序判定为良好的逻辑电路，有时也会在出厂后因老化或受到软错误(soft error)而发生故障。为了满足来自系统的高可靠性的要求，在半导体装置1中，可安装用于对在逻辑电路可能产生的后发性故障进行自我诊断的两种结构。

在第一个结构中，使逻辑电路双重化，将两个逻辑电路中的一个逻辑电路(主侧的逻辑电路)用于规定的控制，并使另一个逻辑电路(子侧的逻辑电路)与一个逻辑电路同样地动作，通过利用控制器等监视是否准确地动作来进行逻辑电路的故障诊断。在第二个结构中，与逻辑电路一起将对该逻辑电路进行测试的自测试(BIST：Built In Self Test)电路组装到半导体装置中。而且，在逻辑电路不动作的期间，通过自测试(BIST)电路测试逻辑电路来进行故障诊断。将通过自测试(BIST)电路对逻辑电路的测试称为逻辑BIST。