[发明专利]一种β吸收式测尘仪的定标系统及其方法

权利要求书

1.一种β吸收式测尘仪的定标系统，其特征在于，所述定标系统包括装载不同质量的标准膜片的标准膜片支架、工作滤带、计数模块、储存模块和计算模块；所述不同质量的标准膜片的质量不大于1.2 mg/cm²；

所述计数模块用于对所述β吸收式测尘仪的β放射源穿过空白工作滤带或紧贴标准膜片的工作滤带的脉冲频率进行计数，计数总量分别记为N1和N2；和用于采用所述储存模块储存的数据计算N1和N2的平均数，再通过公式Δm=1/k ln(N1/N2)、N1和N2的平均数计算k值；

所述储存模块用于储存所述标准膜片的质量Δm和所述计数模块获得的N1和N2；

所述计算模块用于采用所述储存模块储存的数据通过公式Δm=1/k ln(N1/N2)计算k值；和用于计算相邻不同质量的标准膜片k值的平均值以作为分段修正系数；所述不同质量标准膜片为0.3 mg/cm²时计算获得k1值、0.6 mg/cm²时计算获得k2值或0.9 mg/cm²时计算获得k3值；计算k1和k2的平均值k₁₂，计算k2和k3的平均值k₂₃；所述k1为＜0.3 mg/cm²的分段修正系数，所述k₁₂为0.3-0.6 mg/cm²的分段修正系数，所述k₂₃为0.6-0.9 mg/cm²的分段修正系数，所述k3为＞0.9 mg/cm²的分段修正系数；

对所述紧贴标准膜片的工作滤带进行计数时，所述标准膜片支架的不同质量的标准膜片紧贴于所述工作滤带的上方从而固定所述工作滤带，所述标准膜片与工作滤带之间的距离≤0.3 mm。

2.一种使用权利要求1所述定标系统的方法，其特征在于，所述方法包括：

（1）所述储存模块储存所述标准膜片支架的不同质量的标准膜片质量Δm；

（2）采用所述计数模块，对所述β吸收式测尘仪的β放射源穿过所述空白工作滤带的脉冲频率进行计数，计数总量为N1，N1储存至所述储存模块；所述计数时间为6分钟；

（3）将所述标准膜片支架的不同质量的标准膜片紧贴于所述空白工作滤带计数处上方，两者之间的距离≤0.3 mm；

（4）采用所述计数模块，对所述β吸收式测尘仪的β放射源穿过所述紧贴标准膜片的工作滤带的脉冲频率进行计数，计数总量为N2，N2储存至所述储存模块；所述计数时间为6分钟；

（5）重复步骤（2）-（4）获得多个计数总量N1和N2，储存至所述储存模块，重复次数不小于10次，所述计算模块分别计算多个计数总量N1和N2的平均数；

采用所述计算模块通过公式Δm=1/k ln(N1/N2) 、N1和N2的平均数计算k值；

（6）所述标准膜片质量为0.3 mg/cm²，重复步骤（1）-（5）获得k1值；

所述标准膜片质量为0.6 mg/cm²，重复步骤（1）-（5）获得k2值；

所述标准膜片质量为0.9 mg/cm²，重复步骤（1）-（5）获得k3值；

采用所述计算模块计算k1和k2的平均值k₁₂，以及k2和k3的平均值k₂₃；

k1为＜0.3 mg/cm²的分段修正系数，k₁₂为0.3-0.6 mg/cm²的分段修正系数，k₂₃为0.6-0.9 mg/cm²的分段修正系数，k3为＞0.9 mg/cm²的分段修正系数 。