[发明专利]一种锁止到位检测结构、检测方法、移动电源充电模组及移动电源在审
| 申请号: | 201810879287.8 | 申请日: | 2018-08-03 |
| 公开(公告)号: | CN108873099A | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
| 发明(设计)人: | 唐保明;叶小毅;欧阳堂庆;陈铭沛 | 申请(专利权)人: | 广州市安屯尼电子科技有限公司 |
| 主分类号: | G01V9/00 | 分类号: | G01V9/00;G01V3/00;G01V8/10;H02J7/00 |
| 代理公司: | 深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司 44340 | 代理人: | 王昌花 |
| 地址: | 510000 广东省广州市番禺区大石*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 移动电源 锁止 检测 电磁铁 充电模组 到位检测 传感器 感应铁芯 锁止结构 铁芯头部 移动充电 检测锁 有效地 模组 锁紧 | ||
1.一种锁止到位检测结构,包括电磁铁;其特征在于:所述电磁铁包括可往复运动的铁芯;铁芯头部配置锁止结构,所述检测结构还包括传感器;检测结构通过传感器感应铁芯从而检测锁止结构是否锁止到位。
2.如权利要求1所述的检测结构,其特征在于:检测结构还包括控制PCB,电磁铁与控制PCB信号连接;传感器与控制PCB信号连接;传感器感应到铁芯而对应产生感应信号;控制PCB接收所述感应信号从而判断锁止结构是否锁止到位。
3.如权利要求2所述的检测结构,其特征在于:控制PCB控制电磁铁通断电;电磁铁为贯通式电磁铁,包括中空贯通的电磁铁主体结构,铁芯可往复运动地贯穿于电磁铁主体结构;铁芯尾部设置传感器配合结构,传感器感应到配合结构从而对应产生所述感应信号,传感器将产生的所述感应信号传输至控制PCB。
4.如权利要求3所述的检测结构,其特征在于:铁芯尾部外露于电磁铁主体结构;传感器设置于铁芯尾部后方;电磁铁通断电吸引或释放铁芯实现所述往复运动;电磁铁主体结构为线圈。
5.如权利要求4所述的检测结构,其特征在于:铁芯的往复运动带动锁止结构和传感器配合结构作整体性的运动;铁芯头部与铁芯尾部相对于电磁铁主体结构的运动方向相反;铁芯头部相对于电磁铁主体结构作内拉运动进行解锁时,铁芯尾部则作外推运动;当铁芯头部相对于电磁铁主体结构作外推运动进行锁止时,铁芯尾部则作内拉运动。
6.如权利要求1-5中任一项所述的检测结构,其特征在于:所述传感器为霍尔传感器,铁芯尾部设置有磁铁,磁铁靠近霍尔传感器使霍尔传感器产生感应信号;或者,所述传感器为红外传感器,红外传感器的红外光被遮挡时产生感应信号;或者,所述传感器为机械式传感器,所述机械式传感器被触碰压下时传感器产生感应信号。
7.如权利要求6所述的检测结构,其特征在于:所述锁止结构与移动电源锁紧配合;所述锁紧配合为插接配合或卡扣配合或涨紧配合或磁吸附配合。
8.如权利要求7所述的检测结构,其特征在于:铁芯头部直接用作锁止结构,铁芯头部插入移动电源上设置的锁止孔内实现对移动电源的锁止;铁芯头部还设置有限位结构;铁芯头部插入移动电源上的锁止孔锁止时,限位结构抵紧于锁止孔的外边缘;限位结构为铁芯头部后方的外径增大形成的环形壁;铁芯与电磁铁主体结构之间弹性配合。
9.如权利要求6所述的检测结构,其特征在于:铁芯尾部设置固定座,磁铁安装于固定座内;磁铁作为传感器配合结构;当所述传感器为红外传感器或机械式传感器时,外露于电磁铁主体结构的铁芯尾部直接作为传感器配合结构,或者所述磁铁直接作为传感器配合结构。
10.一种检测方法,利用权利要求1~9中任一项所述的检测结构进行,其包括以下检测步骤:
移动电源送入后:
当传感器感应到铁芯靠近而产生感应信号时,则判断为锁止未到位;
当传感器感应不到铁芯靠近不产生感应信号时,则判断为锁止到位。
11.如权利要求10所述的检测方法,其特征在于:
移动电源送入后:
铁芯靠近传感器,传感器产生感应信号并向控制PCB发送感应信号,控制PCB判断锁止结构锁止未到位、移动电源未被锁死;
当传感器感应不产生感应信号,此时控制PCB判断锁止结构锁止到位、移动电源被锁死。
12.如权利要求11所述的检测方法,其特征在于:
控制PCB判断锁止结构锁止未到位、移动电源未被锁死时,控制PCB控制发送移动电源归还不成功的提示;
控制PCB判断锁止结构到位、移动电源被锁死时,控制PCB控制发送移动电源已成功归还的提示。
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