[发明专利]一种图形化衬底、LED外延片及图形化衬底制备方法在审
申请号: | 201810870606.9 | 申请日: | 2018-08-02 |
公开(公告)号: | CN110797442A | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 付星星;康凯;陆前军 | 申请(专利权)人: | 东莞市中图半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/20 | 分类号: | H01L33/20;H01L33/44;H01L33/00 |
代理公司: | 11332 北京品源专利代理有限公司 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 523000 广东省东莞市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图形化 衬底 微结构 二氧化硅层 蓝宝石基板 侧壁 制备 出光效率 二氧化硅 发光效率 出射光 全反射 散射 源区 | ||
1.一种图形化衬底,其特征在于,包括:
蓝宝石基板;
位于所述蓝宝石基板上的图形化二氧化硅层,所述图形化二氧化硅层包括多个微结构,所述微结构带有侧壁弧度。
2.根据权利要求1所述的图形化衬底,其特征在于,所述微结构为类圆锥形、类圆台型、类多边锥形或类多边台形。
3.根据权利要求2所述的图形化衬底,其特征在于,所述微结构的侧壁弧度的隆起高度为70~300nm。
4.根据权利要求3所述的图形化衬底,其特征在于,所述微结构的高度为0.1μm~2.5μm;所述微结构的底部直径为0.1μm~5μm;所述微结构的间距为0μm~2μm。
5.根据权利要求1所述的图形化衬底,其特征在于,所述图形化衬底还包括缓冲层,所述缓冲层位于所述图形化二氧化硅层背离所述蓝宝石基板一侧。
6.根据权利要求1所述的图形化衬底,其特征在于,所述缓冲层为AlN缓冲层,所述AlN缓冲层厚度为1nm~100nm。
7.根据权利要求1所述的图形化衬底,其特征在于,所述多个微结构呈周期性正方格子排布、周期性六角密堆积排布、非周期性的准晶排布或随机排布。
8.一种LED外延片,其特征在于,包括如权利要求1-7任一所述的图形化衬底,以及形成于图形化衬底上的外延层。
9.一种图形化衬底的制备方法,其特征在于,包括:
提供一蓝宝石基板;
在所述蓝宝石基板上形成二氧化硅层;
将所述二氧化硅层蚀刻为多个带有侧壁弧度的微结构,形成图形化二氧化硅层。
10.根据权利要求9所述的图形化衬底的制备方法,其特征在于,所述将所述二氧化硅层蚀刻为多个带有侧壁弧度的微结构,形成图形化二氧化硅层,包括:
在所述二氧化硅层上形成光刻胶层;
对所述光刻胶层进行图形化;
利用预设气体比例的六氟化硫和氧气的混合气体,将所述二氧化硅层为多个带有侧壁弧度的微结构,形成图形化二氧化硅层。
11.根据权利要求10所述的图形化衬底的制备方法,其特征在于,所述预设气体比例为5:1~10:1。
12.根据权利要求10所述的图形化衬底的制备方法,其特征在于,所述对所述光刻胶层进行图形化,包括:
采用光刻方法对所述光刻胶层进行图形化,或采用纳米压印对所述光刻胶层进行图形化。
13.根据权利要求9所述的图形化衬底的制备方法,其特征在于,还包括:
在所述图形化二氧化硅层上形成缓冲层。
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