[发明专利]一种星敏感器地面试验用遮光罩陷光装置

说明书

一种星敏感器地面试验用遮光罩陷光装置，属于杂光抑制技术领域，解决了在现有星敏感器地面试验时出现的由光源出射光束直射至星敏感器遮光罩而引起的一次杂光污染问题。所述陷光装置：壳体为不设后面板的矩形体，在壳体的前面板上设置有入光口。光阑设置在壳体的前面板上，星敏感器遮光罩设置在壳体内，光阑、入光口和星敏感器遮光罩同轴设置，星敏感器遮光罩的前端面与壳体前面板的外表面共面。星敏感器遮光罩的前开口端的内径等于光阑的孔径，小于入光口的直径。锥形结构的大端开口、小端封闭，多个锥形结构开口端朝外地密布设置在壳体的顶板、左侧板和右侧板上。在壳体的外表面、光阑的框架以及锥形结构的内、外表面上均涂覆有消光黑漆。

技术领域

本发明涉及一种陷光装置，属于杂光抑制技术领域。

背景技术

在进行星敏感器的地面试验时，光源的出射光束照射至星敏感器遮光罩的挡光环、侧壁以及其周围结构的表面时会发生散射或衍射。形成的散射光或衍射光会对星敏感器的测试背景区域造成杂光污染，进而影响星敏感器像面处的能量分布以及星敏感器遮光罩消光比的测量精度。然而，目前尚无有效技术手段能够解决由光源出射光束直射至星敏感器遮光罩而引起的一次杂光污染问题。

发明内容

本发明为解决在现有星敏感器地面试验时出现的由光源出射光束直射至星敏感器遮光罩而引起的一次杂光污染问题，提出了一种星敏感器地面试验用遮光罩陷光装置。

本发明所述的星敏感器地面试验用遮光罩陷光装置包括壳体、光阑1和杂光吸收单元；

壳体为不设后面板的矩形体，在壳体的前面板2上设置有入光口3；

光阑1设置在壳体的前面板2上，星敏感器遮光罩4设置在壳体内，光阑1、入光口3和星敏感器遮光罩4同轴设置，星敏感器遮光罩4的前端面与壳体前面板2的外表面共面；

光阑1的孔径等于星敏感器遮光罩4的前开口端的内径，入光口3的直径大于星敏感器遮光罩4的前开口端的内径；

杂光吸收单元包括多个锥形结构5，锥形结构5的大端开口、小端封闭，多个锥形结构5开口端朝外地密布设置在壳体的顶板6、左侧板7和右侧板8上；

在壳体的外表面、光阑1的框架以及锥形结构5的内、外表面上均涂覆有消光黑漆。

作为优选的是，光阑1与壳体通过内螺钉固定。

作为优选的是，锥形结构5与壳体螺纹连接。

作为优选的是，光阑1为电动可变光阑。

作为优选的是，电动可变光阑的调节范围为50～200mm。

作为优选的是，锥形结构5为圆锥形结构。

作为优选的是，圆锥形结构的高与底面直径的比值等于或大于4。

作为优选的是，消光黑漆的吸光率为97.5％。

本发明所述的星敏感器地面试验用遮光罩陷光装置，在其壳体的顶板、左侧板和右侧板由密布设置有锥形结构。锥形结构的开口端向外设置，当光源的出射光束射向星敏感器遮光罩时，杂光进入锥形结构的内部，并且发生多次发射，从而被涂覆在锥形结构内表面上的消光黑漆吸收，进而实现了陷光的效果。因此，本发明所述的星敏感器地面试验用遮光罩陷光装置能够有效地解决在现有星敏感器地面试验时出现的由光源出射光束直射至星敏感器遮光罩而引起的一次杂光污染问题。

附图说明

在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明所述的星敏感器地面试验用遮光罩陷光装置进行更详细的描述，其中：

图1为实施例提及的光阑的结构示意图；

图2为实施例提及的壳体的结构示意图；

图3为实施例提及的星敏感器遮光罩的结构示意图；