[发明专利]传输数字配线架的测试器和测试方法

说明书

一种传输数字配线架测试器和测试方法，设有与传输设备E1接口板所连接的传输数字配线架尺寸配套的测试板，在测试板上设有至少一排测试连接器，测试连接器之间的间隔和位置与所测试的传输数字配线架上正常状态转接连接器一一对应；测试板上还设有电池、开关和发光二极管构成的测试回路。本发明通过插入测试板和传输设备E1接口板与传输设备的连接和断开两个状态，可以从两个状态快速判断配线架连接器以及说连接的导线是否正常。可以批量对数字配线架上的所有同轴电缆连接器进行测试，不仅降低了测试时间，而且降低了测试过程的繁琐程度，简化了判断过程，降低了测试失误率。

技术领域

本发明涉及数字传输领域，具体说是一种传输数字配线架测试器和测试方法。

背景技术

数字配线架又称高频配线架，它能使数字通信设备的数字码流连接为一个整体，为配线、调线、转接、扩容都带来很大的灵活性和方便性，由于配线架连接器的内、外导体通过连接的导线与外部线路连接，但是小体积的配线架同轴电缆连接器与导线的连接极易出现连接器的内外导体之间短路或导线与导体之间连接短路的情况，施工完成后，对数字配线架的测试至关重要。

现有技术中常用万用表蜂鸣档进行通断路测试，或者电脑软件接入传输设备对数字配线架的同轴电缆连接器进行环回测试。这些测试方法一般需要60分钟以上，而且万用表测试需要对数字配线架各端子一一测试，软件测试设备加电后才能对数字配线架进行测试，同样也要对数字配线架各端子一一做环回测试。由此可知，现有的测试技术不仅用时较长，而且测试过程比较繁琐、失误率高。极大地影响了施工进度和可靠性。

发明内容

针对现有技术中存在的缺陷，本发明解决的技术问题为：对数字配线架进行测试时，如何在降低测试时间的同时，提高测试过程的方便性。

所述的传输数字配线架测试器，其特征在于：设有与所述传输设备 E1接口板所连接的传输数字配线架尺寸配套的测试板，在所述测试板上设有至少一排测试连接器，测试连接器之间的间隔和位置与所测试的传输数字配线架上工作状态配线架连接器一一对应；

所述测试板上还设有电池、开关和发光二极管，通过导线将每一个测试连接器和一个独立的发光二极管串联连接，并在回路中串入开关后将发光二极管的阳极一侧接线端与电池正极连接，将发光二极管的阴极一侧接线端与电池负极连接，其中测试连接器的内导体端和外导体端分别作为测试连接器的接插件测试接线端。

进一步地，将一排测试连接器依次分为多组，每一组共用一个开关。

优选地，每一个所述测试连接器通过插口与测试板固定连接，所述测试连接器的插口数量不少于所测试的传输数字配线架上工作状态配线架连接器的数量。

优选地，每一个开关串接一个独立的限流电阻。

优选地，所述电池为可充电池，在所述测试板上设有充电管理器和充电接口，所述可充电池通过充电管理器与充电接口连接。

一种传输数字配线架测试方法，其特征在于：以下述步骤进行：

首先、检查传输数字配线架与传输设备为连接状态，将测试板1的测试连接器2接插到传输数字配线架8上对应位置的配线架连接器9；

之后，将传输设备E1接口板接插到传输设备上，在传输设备E1接口板上，传输设备E1接口板的转接连接器内外导体为接通状态，配线架连接器和传输设备E1接口板对应位置的转接连接器为连接状态，因此，正常的配线架连接器的内、外导体应为导通状态；

如果测试板上对应线路的发光二极管不亮，则传输数字配线架上的配线架连接器内、外导体所连接的导线之间为断路状态，对应的配线架连接器非正常；

如果发光二极管被点亮，则传输数字配线架上的配线架连接器内、外导体以及与导线的连接正常，或者传输数字配线架上的配线架连接器内、外导体短路，需要在下一步确认；