[发明专利]具有非侵入式自测试的处理器

说明书

本申请案涉及一种具有非侵入式自测试的处理器。一种处理器(100)包含中央处理单元CPU(102)和诊断监测电路(112)。所述诊断监测电路(112)耦合到所述CPU(102)。所述诊断监测电路(112)包含监测和循环冗余检查CRC计算单元(106)。所述监测和CRC计算单元(106)被配置成检测所述CPU(102)对诊断程序的执行，以及计算多个CRC值。在所述CPU(102)执行所述诊断程序时，所述CRC值中的每一个对应于从所述CPU(102)的给定寄存器或从将所述CPU(102)耦合到存储器和外围子系统(108)的总线检索的处理器值。

相关申请案

本申请案主张2017年8月3日提交的印度临时申请案第201741027612号的优先权，所述临时申请案以引用的方式并入本文中。

技术领域

本申请案涉及一种具有非侵入式自测试的处理器。

背景技术

微处理器、微控制器和类似电子装置用于各种应用中。各种状况和事件可致使此类装置失效，从而不利地影响装置操作。当发生失效的装置正在执行影响用户安全的关键任务的过程时，此类失效的后果通常是会造成更显著影响。为确保此类应用正确操作，连续评估装置的操作条件。所述装置可包含支持操作连续评估的自测试特征。

发明内容

本文中公开用于监测处理器操作的设备和方法。在一个实例中，一种处理器包含中央处理单元(CPU)和诊断监测电路。所述诊断监测电路耦合到CPU。所述诊断监测电路包含监测和循环冗余检查(CRC)计算单元。所述监测和CRC计算单元被配置成检测所述CPU对诊断程序的执行，以及计算多个CRC值。在所述CPU执行诊断程序时，CRC值中的每一个对应于从所述CPU的给定寄存器或从将所述CPU耦合到存储器和外围子系统的总线检索的处理器值。CRC值中的每一个对应于CPU的各个方面，例如寄存器、存储器总线或在诊断程序的执行期间的内部状态。

在另一实例中，处理器诊断电路包含诊断监测电路。所述诊断监测电路包含监测和循环冗余检查(CRC)计算单元。所述监测和CRC计算单元被配置成检测中央处理单元(CPU)对诊断程序的执行，以及计算多个CRC值。在所述CPU执行诊断程序时，CRC值中的每一个对应于从所述CPU的给定寄存器或从将所述CPU耦合到存储器和外围子系统的总线检索的处理器值。CRC值中的每一个对应于CPU的各个方面，例如寄存器、存储器总线或在诊断程序的执行期间的内部状态。

在另一实例中，用于监测处理器健康状态的方法包含通过处理器在不连续处理器空闲时间间隔期间执行诊断程序的指令。所述方法还包含通过诊断监测电路检测所述不连续空闲时间间隔中的所述诊断程序的执行。所述方法另外包含计算多个循环冗余检查CRC值，在所述处理器的中央处理单元(CPU)执行所述诊断程序时，CRC值中的每一个对应于从所述CPU的给定寄存器检索的处理器值。

附图说明

为了详细描述各种实例，现在参考随附图式，在随附图式中：

图1示出根据各种实例的包含非侵入式自测试的处理器的框图；

图2示出根据各种实例的用于非侵入式自测试的监测和循环冗余检查计算单元的框图；

图3示出根据各种实例的包含非侵入式自测试的处理器中的自测试执行时间序列的实例；

图4示出根据各种实例的用于非侵入式自测试的流水线抽取单元的框图；

图5示出根据各种实例的用于执行非侵入式自测试的方法的流程图；和

图6示出根据各种实例的用于非侵入式自测试的方法的流程图。

具体实施方式