[发明专利]基于BWDSP库函数的软件测试方法

说明书

本发明属于软件测试技术领域，公开了基于BWDSP库函数的软件测试方法。该方法包括：设计测试用例；生成待测BWDSP库函数的参考库函数文件和激励文件；对参考库函数文件和激励文件进行编译，生成动态链接库文件；封装测试指令，得到测试文件；运行测试文件和动态链接库文件，得到待测BWDSP库函数及其参考库函数的执行结果；生成误差图，根据误差图确定待测BWDSP库函数的功能是否正确。本发明能够高效、自动地对BWDSP库函数进行大批量的测试，而且可视化程度较高，可使测试人员直观地观察到被测库函数的误差结果。

技术领域

本发明涉及软件测试技术领域，尤其涉及一种软件测试方法，具体来说，是基于BWDSP库函数的软件测试方法。

背景技术

随着数字信号处理技术迅速地发展，DSP芯片被广泛地应用于图像处理、通讯技术、雷达探测、语音处理、网络控制、仪器仪表和家电等领域。

多核BWDSP系列芯片是由中国电子科技集团公司第38研究所自主研制的一系列性能优越的DSP芯片，已被广泛应用于雷达信号处理、电子对抗、精确制导武器、通信保障等多个技术领域。

DSP芯片的底层核心处理程序(即库函数)是整个系统的重点，一套精心编写并优化的库函数能够充分发挥DSP芯片的资源优势，满足数据吞吐量大、实时性要求高的雷达信号处理任务。库函数经过可视化封装后以模块的形式加入DSP开发平台，能够使用户将精力放在上层的设计而不必关心底层细节，大大方便DSP系统的开发，由此可见DSP库函数开发的重要性。而软件测试是保证库函数功能正确性的一个重要手段，其直接决定着芯片的可靠性。因此，要求对所编写的库函数进行精确测试，验证库函数算法的正确性。

为达到测试要求，需对每个库函数进行多组测试，由于函数数量较大，如果采用逐个人工测试的方法逐一测试，必然耗时耗力。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种基于BWDSP库函数的软件测试方法，不仅能够高效、自动地对BWDSP库函数进行大批量的测试，而且可视化程度较高，可使测试人员直观地观察到被测库函数的误差结果。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

本发明提供一种基于BWDSP库函数的软件测试方法，包括以下步骤：

步骤1，为待测BWDSP库函数设计测试用例，并依次对各测试用例进行编号，将每个测试用例对应的编号作为该测试用例的测试激励号；

步骤2，根据所述待测BWDSP库函数的具体函数功能，选择MATLAB标准库函数中的函数或利用MATLAB标准库函数中的函数编写的MATLAB函数作为所述待测BWDSP库函数的参考库函数，所述参考库函数与所述待测BWDSP库函数功能相同；将所述参考库函数写入MATLAB文件，作为所述待测BWDSP库函数的参考库函数文件；

步骤3，生成所述待测BWDSP库函数的激励文件，所述激励文件用于根据测试激励号对测试用例进行随机取值，同时生成相应的数据文件以记录测试用例的取值，并根据所述数据文件对所述待测BWDSP库函数的参考库函数的输入参数进行赋值后，调用所述参考库函数；

步骤4，对所述待测BWDSP库函数的参考库函数文件和激励文件进行编译，生成动态链接库文件；

步骤5，根据所述待测BWDSP库函数的函数名及待测激励号，按照预设的指令格式组成测试指令，并将所述测试指令封装在文本文件中，得到所述待测BWDSP库函数的测试文件；其中，所述待测激励号为所述待测BWDSP库函数的任意测试用例的测试激励号；

步骤6、运行所述BWDSP库函数的测试文件和所述动态链接库文件，得到所述待测BWDSP库函数及其参考库函数的执行结果；

步骤7，根据所述待测BWDSP库函数及其参考库函数的执行结果，生成误差图；根据所述误差图，确定所述待测BWDSP库函数的功能是否正确。