[发明专利]显示面板检测方法及显示面板辅助检测装置

说明书

本发明提供一种显示面板检测方法及显示面板辅助检测装置。所述显示面板检测方法通过多个低分辨率的子检测画面拼接得到高分辨率显示面板的检测画面，通过显示面板辅助检测装置移动显示面板所显示的检测画面，能够实现通过低分辨率画面检测高分辨率显示面板的任意区域的灰阶过渡的平滑性，提升显示面板检测效果，降低显示面板检测成本。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及显示面板检测方法及显示面板辅助检测装置。

背景技术

随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。

现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板包括多个呈阵列式排布的子像素，每个子像素电性连接一个薄膜晶体管(TFT)，该TFT的栅极(Gate)连接至水平方向的扫描线，漏极(Drain)连接至竖直方向的数据线，源极(Source)则连接至像素电极。通过栅极驱动器向扫描线上输入扫描信号，使得电性连接至该条扫描线上的所有TFT打开，从而通过数据驱动器输入到数据线上的数据信号能够写入像素，控制液晶的透光度，实现显示效果。

通常液晶显示面板由彩膜基板(CF，Color Filter)、薄膜晶体管基板(TFT，ThinFilm Transistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC，Liquid Crystal)及密封胶框(Sealant)组成，其成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。

随着显示技术的不断发展，各大生产厂家都在开发显示效果更好的新显示面板，新显示面板开发完成之后，需要检测显示面板的显示效果，现有的检测方法通常是向显示面板输入一检测画面判断所述显示面板的各个区域灰阶过渡是否平滑，但随着显示面板的分辨率的不断提升，在诸如8K4K显示面板等高分辨率显示面板中，由于高分辨率的信号源相对紧缺且价格昂贵，因此会采用多个低分辨率的子检测画面拼接得到高分辨率的显示面板的检测画面，此时由于无法检测拼接处的灰阶是否平滑，导致检测不完整。

发明内容

本发明的目的在于提供一种显示面板检测方法，能够通过低分辨率画面检测高分辨率显示面板的任意区域的灰阶过渡的平滑性，提升显示面板检测效果，降低显示面板检测成本。

本发明的目的还在于提供一种显示面板检测装置，能够通过低分辨率画面检测高分辨率显示面板的任意区域的灰阶过渡的平滑性，提升显示面板检测效果，降低显示面板检测成本。

为实现上述目的，本发明提供了一种显示面板检测方法，包括如下方法：

步骤S1、提供一显示面板辅助检测装置及显示面板，所述显示面板辅助检测装置包括输入单元、与所述输入单元电性连接的处理单元，所述处理单元用于电性连接所述显示面板；

步骤S2、所述显示面板显示检测画面，所述检测画面包括相互拼接的多个子检测画面，相邻子检测画面之间的拼接线位于第一区域，各个子检测画面的分辨率小于所述显示面板的分辨率；

步骤S3、检测所述显示面板除第一区域以外的第二区域的灰阶过渡的平滑性；

步骤S4、输入单元向所述处理单元提供位移信号，所述处理单元根据所述位移信号移动所述检测画面，使得各个相邻子检测画面之间的拼接线移动至第二区域；