[发明专利]自动加工一次测量回退系统和机床在审
| 申请号： | 201810850728.1 | 申请日： | 2018-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN108747499A | 公开（公告）日： | 2018-11-06 |
| 发明（设计）人： | 史昱皓;刘进明;董伟吉 | 申请（专利权）人： | 赫克测控技术(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | B23Q3/06 | 分类号： | B23Q3/06;B23Q17/20;B23Q17/24 |
| 代理公司： | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人： | 黄海霞 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 待加工工件 定位装置 回退系统 一次测量 自动加工 监测装置 变化确定 工作效率 加工工具 弹性的 工作台 监测 机床 承载 反馈 加工 | ||
1.一种自动加工一次测量回退系统，其特征在于，包括：
用于承载待加工工件的工作台；
用于在第一精度范围内确定待加工工件位置的一级定位装置；
用于在高于所述第一精度范围的第二精度范围内确定待加工工件位置的二级定位装置；
用于监测二级定位装置与待加工工件之间弹力的监测装置；
根据反馈的待加工工件位置，加工所述待加工工件的加工工具。
2.根据权利要求1所述的自动加工一次测量回退系统，其特征在于，所述一级定位装置为光学定位装置。
3.根据权利要求2所述的自动加工一次测量回退系统，其特征在于，所述光学定位装置为双目摄像头。
4.根据权利要求1所述的自动加工一次测量回退系统，其特征在于，所述二级定位装置为接触定位装置。
5.根据权利要求4所述的自动加工一次测量回退系统，其特征在于，所述接触定位装置为机械测头。
6.根据权利要求5所述的自动加工一次测量回退系统，其特征在于，所述机械测头为米字机械测头。
7.根据权利要求1所述的自动加工一次测量回退系统，其特征在于，所述监测装置监测弹力相对位移的变化关系。
8.一种自动加工一次测量回退机床，其特征在于，所述机床包括用于承载待加工工件的工作台；
用于在第一精度范围内确定待加工工件位置的一级定位装置；
用于在高于所述第一精度范围的第二精度范围内确定待加工工件位置的二级定位装置；
用于监测二级定位装置与待加工工件之间弹力的监测装置；
根据反馈的待加工工件位置，加工所述待加工工件的加工工具；
机床护罩。
9.根据权利要求8所述的机床，其特征在于，所述一级定位装置安装于所述机床护罩。
10.根据权利要求8所述的机床，其特征在于，所述二级定位装置为接触定位装置。
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