[发明专利]校准方法和系统

权利要求书

1.一种用于关于相位特性和幅度特性中的至少一个来校准被测试设备的校准方法，其具有以下步骤：

-提供被测试设备，所述被测试设备具有多个收发器以及被分配给所述收发器的天线元件；

-提供测量单元，所述测量单元具有至少一个测量天线单元，其被配置为测量在所述被测试设备的远场区域中的所述被测试设备的辐射功率；

-同时接通具有操控相位和操控幅度中的至少一个的至少两个天线元件，使得生成的辐射方向图的峰值波束、零点或旁瓣被指向所述测量天线单元；

-在至少一个其他天线元件保持稳定的同时调整至少一个天线元件的相位或幅度；

-记录致使辐射功率的最高测量增益或最低测量增益的经调整的相位值或经调整的幅度值；

-保存对应于所述最高测量增益或所述最低测量增益的设置；

-针对至少一个其他天线元件重复调整和记录步骤，直到达到所述测量增益的阈值为止，

其中所述测量天线单元关于所述被测试设备的预期辐射方向图被定位。

2.根据权利要求1所述的校准方法，其中使预定义的操控相位或预定义的操控幅度与所述记录的经调整的值彼此相减，以获得适当的校准系数。

3.根据权利要求1或2所述的校准方法，其中，同时调整一组天线元件的相位或幅度。

4.根据前述权利要求中任一项所述的校准方法，其中，针对附加的波束方向重复所述相位校准步骤，以获得全局最大值或全局最小值。

5.根据前述权利要求中任一项所述的校准方法，其中，针对辐射方向图的附加的旁瓣重复所述幅度校准步骤，以获得全局最小值。

6.根据前述权利要求中任一项所述的校准方法，其中，在不同温度下重复校准步骤。

7.根据前述权利要求中任一项所述的校准方法，其中，相位被移位并且所述辐射方向图的零点被测量。

8.根据前述权利要求中任一项所述的校准方法，其中，幅度被移位并且所述辐射方向图的旁瓣被测量。

9.根据前述权利要求中任一项所述的校准方法，其中，相位或幅度被调整为使得所述被测试设备具有指向所述测量天线单元的主瓣。

10.根据前述权利要求中任一项所述的校准方法，其中，相位首先被校准，使得一旦相位被校准就进行幅度校准。

11.一种用于校准被测试设备的相位和幅度中的至少一个的系统，其包括控制单元、测量单元和测量天线单元，所述测量天线单元被连接到所述测量单元，所述控制单元具有控制接口以与所述被测试设备连接，所述系统被配置为执行根据权利要求1所述的方法。