[发明专利]一种测量器具在审

专利信息
申请号: 201810846501.X 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN108917708A 公开(公告)日: 2018-11-30
发明(设计)人: 刘翔;马瑞亚;郭金 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
主分类号: G01C5/00 分类号: G01C5/00;G01C9/00;G01B5/02
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 滑动件 支撑脚 测量器具 倾角检测装置 转动连接 转动轴线 高度差 基准面 转动 测量技术领域 基准测量块 滑动连接 准确测量 平面相 可用 塞尺 测量 检测
【说明书】:

发明公开了一种测量器具,涉及测量技术领域,为解决现有的塞尺、基准测量块等测量器具无法准确测量两个平面高度差的问题而发明。该测量器具,包括:第一滑动件和第二滑动件,第二滑动件与第一滑动件滑动连接;第一支撑脚以及第二支撑脚,第一支撑脚和第二支撑脚均包括基准面,基准面用于被测平面相接触,第一支撑脚与第一滑动件转动连接,以使第一滑动件可绕第一转动轴线相对第一支撑脚转动,第二支撑脚与第二滑动件转动连接,以使第二滑动件可绕第二转动轴线相对第二支撑脚转动;倾角检测装置,倾角检测装置用于检测第一滑动件相对水平面的倾角大小。本发明可用于平面高度差等的测量。

技术领域

本发明涉及测量技术领域,尤其涉及一种测量器具。

背景技术

在产品的生产以及运送过程中,经常需要测量某些装置中的某些平面之间的高度差,以此来判断该装置是否符合要求;例如在显示面板的制造的过程中,为了方便运送,掩膜板(也可以是基板)是放置在放置架(Shelf)上,如图1所示,该放置架具有多层结构,掩膜板01放置于放置架每层的两个支撑面02上。

其中,放置架上位于两侧的支撑面02之间是否共面十分重要,如果两侧的支撑面02存在高度差,那么掩膜板01会发生一定的倾斜,那么在机械手取放掩膜板01时很容易因为倾斜而导致掩膜板01发生震动,而震动则会破坏掩膜板01的结构,从而影响掩膜板01的精度。由此,如何精确地测量放置架每层两个支撑面02的高度差,以及时对放置架做出调整,对被放置物的结构完好性保持具有十分重要的意义。

在现有技术中对放置架每层的两个支撑面02之间的高度差的测量主要是通过塞尺与基准测量块配合来完成的,在测量时,是将基准测量块搭载放置架同一层的两个支撑面02,利用塞尺对基准测量块的其中一端与支撑面02之间的间隙进行检测,间隙的大小就是同一层的两个支撑面02之间的高度差。

现有的这种高度差的测量方法是通过基准测量块搭接在两个支撑面02上来完成的,如果两个支撑面02之间存在高度差,那么基准测量块其中一端与支撑面02之间的间隙是以三角形存在的,间隙的大小不是定值,那么塞尺在检测时随着位置的变动就会得出不同的间隙值,那么通过这种方法就无法准确地得出两个支撑面02之间的高度差。

发明内容

本发明的实施例提供一种测量器具,用于解决现有的塞尺、基准测量块等测量器具无法准确测量两个平面高度差的问题。

为达到上述目的,本发明实施例提供了一种测量器具,包括:第一滑动件和第二滑动件,所述第一滑动件为条状,所述第二滑动件与所述第一滑动件滑动连接,并且所述第一滑动件、所述第二滑动件可在所述第一滑动件的延伸方向发生相对滑动;第一支撑脚以及第二支撑脚,所述第一支撑脚和所述第二支撑脚均包括基准面,所述基准面用于所述被测平面相接触,所述第一支撑脚与所述第一滑动件转动连接,以使所述第一滑动件可绕第一转动轴线相对所述第一支撑脚转动,所述第二支撑脚与所述第二滑动件转动连接,以使所述第二滑动件可绕第二转动轴线相对所述第二支撑脚转动,所述第一转动轴线和所述第二转动轴线均平行于所述基准面并且垂直于所述第一滑动件的延伸方向;倾角检测装置,所述倾角检测装置用于检测所述第一滑动件相对水平面的倾角大小。

进一步地,所述倾角检测装置包括固定架、传动机构、滑板以及摆锤,所述固定架与所述第一滑动件或者所述第二滑动件固定连接,所述滑板与固定架滑动连接,所述摆锤通过摆杆与所述传动机构相连接,所述传动机构还与所述滑板相连接;当所述摆锤相对所述固定架发生摆动时,所述摆锤可通过所述传动机构带动所述滑板相对所述固定架滑动;所述固定架上还设有用于标识所述滑板在所述固定架上位置的刻度线。

更进一步地,所述传动机构包括第一齿轮和齿条,所述第一齿轮可转动设置于所述固定架上;所述第一齿轮与所述齿条传动连接,所述齿条与所述滑板固定连接,所述摆锤通过所述摆杆与所述第一齿轮相连接;当所述摆锤相对所述固定架发生摆动时,所述摆锤可带动所述第一齿轮转动,以使所述第一齿轮驱动所述齿条相对所述固定架移动。

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