[发明专利]一种光模块老化测试装置及方法在审
申请号: | 201810843640.7 | 申请日: | 2018-07-27 |
公开(公告)号: | CN108646121A | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 商俊强;宋柳佳;苏方圆;马建旭;陆明;李岩;杨帆 | 申请(专利权)人: | 光梓信息科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 徐秋平 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 交流电信号 光模块 老化测试装置 产生单元 光信号传输单元 电光转换单元 光电转换单元 检测 误码率 光信号转换 老化测试 传输 转换 | ||
本发明提供一种光模块老化测试装置及方法,包括以下单元:交流电信号产生单元,用于产生第一交流电信号;电光转换单元,连接于所述交流电信号产生单元,用于将所述第一交流电信号转换为光信号;光信号传输单元,连接于所述电光转换单元,用于传输所述光信号;光电转换单元,连接于所述光信号传输单元,用于将所述光信号转换为第二交流电信号;交流电信号检测单元,连接于所述光电转换单元,用于检测所述第二交流电信号的误码率。本发明的一种光模块老化测试装置及方法,通过交流电信号产生单元产生第一交流电信号,交流电信号检测单元用于检测所述第二交流电信号的误码率,实现光模块老化测试。
技术领域
本发明属于集成电路和光模块领域,特别是涉及一种光模块老化测试装置及方法。
背景技术
目前,由于在光模块性能测试的时候,特别是模拟光模块老化测试的时候采用直流加电压的方法,并不能真正模拟客户在实际使用过程中的光模块老化,即使使用交流电信号进行光模块老化测试也是由外部提供的硬件如多通路信号发生器来提供信号,这样大大增加了光模块老化测试的成本,以及系统的不稳定性。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种光模块老化测试装置及方法,用于解决现有技术中使用交流电信号进行光模块老化测试是由外部提供的硬件如多通路信号发生器来提供信号,这样大大增加光模块老化测试的成本,以及造成系统的不稳定性的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种光模块老化测试装置及方法,所述装置包括:交流电信号产生单元,用于产生第一交流电信号;电光转换单元,连接于所述交流电信号产生单元,用于将所述第一交流电信号转换为光信号;光信号传输单元,连接于所述电光转换单元,用于传输所述光信号;光电转换单元,连接于所述光信号传输单元,用于将所述光信号转换为第二交流电信号;交流电信号检测单元,连接于所述光电转换单元,用于检测所述第二交流电信号的误码率。
于本发明的一实施例中,所述交流电信号产生单元包括:交流电信号产生模块用于产生所述第一交流电信号;所述时钟信号产生模块用于提供时钟信号;第一时钟数据恢复模块,连接于所述交流电信号产生模块和所述时钟信号产生模块,用于根据所述时钟信号恢复所述第一交流电信号;驱动模块,连接于所述时钟数据恢复模块,用于驱动并增强所述第一时钟数据恢复模块恢复后的第一交流电信号。
于本发明的一实施例中,所述交流电信号产生单元还包括:第一模式复用模块,连接于所述交流电信号产生模块和时钟信号产生模块,用于选择将所述第一交流电信号或外部交流电信号产生装置输入交流电信号至所述第一时钟数据恢复模块。
于本发明的一实施例中,所述交流电信号检测单元包括:信号放大模块,用于放大所述第二交流电信号;第二时钟数据恢复模块,连接于所述信号放大模块,用于根据所述时钟信号恢复所述第二交流电信号;交流电信号检测模块,连接于所述第二时钟数据恢复模块,用于检测所述第二时钟数据恢复模块恢复后的第二交流电信号。
于本发明的一实施例中,所述交流电信号检测单元还包括:第二模式复用模块,连接于所述第二时钟数据恢复模块,用于选择输出所述第二交流电信号至交流电信号检测模块或外部交流电信号检测装置。
于本发明的一实施例中,所述交流电信号检测单元还包括信号检测单元,连接于所述光电转换单元,用于检测所述光电转换单元是否正常工作。
于本发明的一实施例中,还包括微控单元,所述微控单元与所述交流电信号产生单元的第一寄存器和交流电信号检测单元的第二寄存器进行通信,通过所述第一寄存器控制所述交流电信号产生单元的各个模块和所述第二寄存器控制所述交流电信号检测单元的各个模块进行操作。
于本发明的一实施例中,还包括光学检测单元,连接于所述光信号传输单元,用于显示并检测所述光信号。
于本发明的一实施例中,所述第一交流电信号为速率为23-28Gbps,且幅值可调的PRBS31的伪随机二进制序列。
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